扫描电镜及X射线能谱仪在首饰镀层检测中的应用.PDF

维普资讯 扫描 电镜及 X射线能谱仪在首饰镀层 检测 中的应用 谭 莹，张震坤，陈 明，曹 标，刘健斌 (广东出入境检验检疫局技术中心，广州 510623) 摘 要：采用扫描电镜及x射线能谱仪对首饰镀层进行了检测，并对两种方法进行 了比较。结 果表明，镀铑首饰采用无损检测法较合适，而镀金首饰采用破坏性检测法较合适。 关键词：首饰镀层 ；扫描 电镜 ；X射线能谱仪 ；检测 中图分类号：TGl15．23 文献标识码：A 文章编号：1001—4012(2007)04—0185—03 APPLICATION OF SEM ANDEDSIN INSPECTION OFPLATINGORNAMENTS TANYing，ZHANGZhewkun，CHENMing，CAOBiao，LIUjian-bin (GuangdongInspectionandQuarantineTechnologyCenter，Guangzhou510623，China) Abstract：TheplatinglayersofornamentswereinspectedbySEM andEDSrespectively．Theresultshowed thattheornamentsplatingwithRharesuitabletobeinspectedbynondestructivetestingmethodandtheornaments platingwithAuaresuitabletobeinspectedbydestructivemethod． Keywords~Ornamentsplating；SEM ；EDS；Inspection 目前在首饰行业中，通常采用电镀贵金属的电 银基底。扫描电镜直接测量该镀金层厚为1．81~／m。 镀工艺，且品种繁多，由于贵金属价格昂贵，因此镀 图2是镀金棒背散射电子像，图中较为明显的 层较薄，而首饰的形状又很复杂，给检测带来一定的 白亮线条是镀金层，白线条的左边是保护层镍层，白 难度。笔者采用扫描电镜及 X射线能谱仪，根据 线条的右边是镍层和铜底层，由于镍和铜这两个元 GB／T17722和GB／T17723标准方法，对三个有代 素的原子序数相近，导致两元素的背散射电子像差 表性样品的贵金属镀层进行了检测和比较。 别不大。该镀金层厚为0．3m。 图3是手链背散射电子像，图中显示手链镀铑 1 破坏性检测方法 层是一条不大清晰的凸起的线条，线条的右边是保 根据GB／T17722—1999((全覆盖层厚度的扫 护层，左边是镀铑的底层(镍层)。由于铑层非常薄， 描电镜测量方法》，先将三个不同镀层的样品(项链、 即不清晰也不连续，用扫描电镜无法准确测量其 镀金棒和手链)电镀一层保护层——镍层，然后用带 厚度。 有金属粉的电木粉镶嵌，经研磨、抛光后制成试样。 由此可见，破坏性检测法能清晰地显示各镀层， 将制好的样品直接放人扫描电镜 的样 品室进行 且能用仪器准确直观地测量其厚度，可信度较高。 观察。 但对制样技术要求较高，特别是0．2m镀层厚度 图1为项链样品背散射 电子图像，图中清晰地 的样品，由于镀层太薄，受制样时磨、抛的影响，很难 显示各镀层，其中中间的白亮层为镀金层，镀金层的 得到完整的清晰的镀层图像，这给仪器的测量带来 左边是保护层(镍层)，右边是底层 (铜层)，该项链是 困难 。