实验二 TTL集成逻辑门功能测试.docVIP

2 数字电子电路实验 实验2.1 TTL集成逻辑门的功能和参数测试 一、实验目的 （1）熟悉数字电路实验箱各部分电路的基本功能和使用方法。 （2）熟悉TTL集成逻辑门电路实验芯片的外形和引脚排列。 （3）掌握实验芯片门电路的逻辑功能和主要参数的测试方法。 二、实验设备及材料 数字逻辑电路实验箱及扩展板，双踪示波器，直流电压表，毫安表，数字万用表，集成芯片74LS00（四2输入与非门）、74LS04（六反相器）、74LS10（三3输入与非门）、74LS20（二4输入与非门）和导线若干。 三、实验原理 1、数字电路基本逻辑单元的工作原理 数字电路工作过程是数字信号，而数字信号是一种在时间和数量上不连续的信号。 （1）反映事物逻辑关系的变量称为逻辑变量，通常用“0”和“1”两个基本符号表示两个对立的离散状态，反映电路上的高电平和低电平，称为二值信息。若变量Y的状态由变量A、B、C……的状态决定，则称Y是A、B、C……的逻辑函数。A、B、C……称为输入变量，Y称为输出变量。 （2）数字电路中的二极管有导通和截止两种对立工作状态。三极管有饱和、截止两种对立的工作状态。它们都工作在开、关状态，分别用“1” 和“0”来表示导通和断开的情况。 （3）在数字电路中，以逻辑代数作为数学工具，采用逻辑分析和设计的方法来研究电路输入状态和输出状态之间的逻辑关系，而不必关心具体的大小。 2、TTL集成与非门电路的逻辑功能的测试 （a）引脚排列 （b）逻辑符号图2-1-1 74LS20集成芯片引脚排列和逻辑符号TTL集成与非门是数字电路中广泛使用的一种逻辑门。实验采用双4输入与非门74LS20芯片，其内部 （a）引脚排列 （b）逻辑符号 图2-1-1 74LS20集成芯片引脚排列和逻辑符号 与非门的逻辑功能是：“输入信号只要有低电平，输出信号为高电平；输入信号全为高电平，输出则为低电平”（即有0得1，全1得0）。 在测试与非门的行逻辑功能时，输入端接至逻辑拔位开关，开关向上为逻辑“1”，相应灯亮；开关向下为逻辑“0”，相应灯不亮。输出端接发光二极管显示，亮为逻辑“1”，不亮为逻辑“0”。 3、TTL门和CMOS门电路多余输入端的处理 （1）对于与门、与非门多余输入端的处理方式是：CMOS门多余输入端接高电平，即接电源电压，电路的输入端不可悬空。对于TTL门多余输入端可接电源，或通过大电阻接地。小规模集成芯片可悬空，悬空相当于正逻辑“1”。但是，中规模集成芯片输入端悬空，易受外界干扰，破坏电路的逻辑功能。 （2）对于或门、或非门多余的输入端处理方式是：①接低电平；②接地；③通过电阻接地。但TTL门必须通过电阻（阻值1kΩ以下）接地，才能保证输入端为低电平。 5、使用TTL集成电路的注意事项﹙以TTL与非门为例﹚ （1）集成芯片插入管座时，要认清定位标记，不得插反。 （2）电源电压使用范围+4.5 V~+5.5 V之间，实验使用Vcc=+5 V。电源绝对不允许接错。 （3）输出端不允许直接接电源+5 V或直接接地，否则会导致器件损坏。 （4）除集电极开路输出门和三态输出门外，不允许几个TTL器件输出端并联使用，否则会使电路逻辑功能混乱，损坏器件。 四、实验内容 1、验证TTL集成芯片74LS00、74LS04、74LS08、74LS10、74LS20逻辑门的逻辑功能 实验逻辑门集成芯片插在扩展板上。芯片电源Vcc为+5V，“GND”为地。 74LS20芯片按图2-1-1连接，二进制的输入端A、B、C、D接逻辑拨位开关，灯亮为高电平逻辑“1”，灯灭为低电平逻辑“0”，输出端Y接发光二极管显示。按照真值表逐项测试。但是，对于74LS20芯片 表2-1-1 双4输入与非门74LS20功能测试- 输入端 输出端 An Bn Cn Dn Y1 Y2 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 同理，测试集成逻辑门芯片74LS00、74LS04、74LS08、74LS10，分别自拟真值表，记录实验状态，总结各逻辑门的功能。 五、预习要求 1、复习TTL集成逻辑门的有关内容，认真阅读使用TTL门注意事项。 2、了解数字电路实验箱的结构、功能及使用方法。 3、写出集成芯片74LS00（四2输入与非门）、74LS04（六反相器）、74LS10（三3输入与非门）、74LS20（二4输入与非门）的真值表。 六、实验报告与思考题 1、列表记录74LS00、74LS04、74LS08、74LS10、74LS20实验结果，写出各芯片的逻辑功能。 2、画出实测电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。 3、怎样判断门电路逻辑功能是否正常？ 4、与非门一个输入端接连续脉冲，其余端什么状态时允许