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实验一 薄透镜焦距的测定 【实验目的】 进一步理解透镜成像的规律； 掌握测量薄透镜焦距的几种方法； 学会光具座上各元件的共轴调节方法。 【实验仪器】 光具座、凸透镜、凹透镜、平面镜、像屏、物屏、光源。 【实验原理】 1、薄透镜焦距的测定 透镜的厚度相对透镜表面的曲率半径可以忽略时，称为薄透镜。薄透镜的近轴光线成像公式为： （3—1—1） 式中s为物距，s＇为像距，f?为焦距。其符号规定如下：实物时s取正，虚物s取负；实像时s＇取正，虚像时s＇取负；f?为透镜焦距，凸透镜取正，凹透镜取负 。 物物像 物 物 像 像 屏 屏 S1 S2 S1＇ S2＇ 图1 位移法测透镜焦距 A L （贝塞尔法又称共轭成像法） 如图1所示，如果物屏与像屏的距离A保持不变，且A 4f，在物屏与像屏间移动凸透镜，可以两次看到物的实像，一次成倒立放大实像，一次成倒立缩小实像，两次成像透镜移动的距离为L。 据光线可逆性原理可得：s1= s2′，s2= s1′，则，， M反射镜ABB′A′L f图2 自准直法测凸透镜焦距 M 反 射 镜 A B B′ A′ L f 图2 自准直法测凸透镜焦距 只要测出A和L的值，就可算出f。 自准直法测凸透镜焦距 光路图如图2所示。当物体AB处在凸透镜的焦距平面时，物AB上各点发出的光束，经透镜后成为不同方向的平行光束。若用一与主光轴垂直的平面镜将平行光反射回去，则反射光再经透镜后仍会聚焦于透镜的焦平面上，此关系就称为自准直原理。所成像是一个与原物等大的倒立实像A′B′（此时物到透镜的距离即为焦距）。所以自准直法的特点是：物、像在同一焦平面上。自准直法除了用于测量透镜焦距外，还是光学仪器调节中常用的重要方法。 物距—像距法测凹透镜焦距（利用虚物成实像求焦距） SS′图3 物距—像距法测凹透镜焦距如图3所示，先用凸透镜L1使AB成实象A1B1，像A1 B1便可视为凹透镜L2的物体（虚物）所在位置，然后将凹透镜L2放于L1和A1B1之间，如果O2A1∣f2∣，则通过L1的光束经L2折射后，仍能形成一实象A2B2。物距s = O2A1，像距s′ = O2A2，代入公式（3 S S′ 图3 物距—像距法测凹透镜焦距 2、光具座上的共轴调节 由于应用薄透镜成像公式时，需要满足近轴光线条件，因此必须使各光学元件调节到同轴。所谓光学的共轴，是指各透镜的光轴重合，物面中心处在光轴上，并且物面、屏面垂直于光轴，照明光束也大体沿光轴方向。本实验中还必须使光轴与光具座的导轨严格平行。具体方法可分两步进行。 P′P″ P′ P″ P 4f 图4 共轴调节 ②细调：利用透镜二次成像法来判断是否共轴，并进一步调至共轴。当物屏与像屏距离大于4f时，沿光轴移动凸透镜，将会成两次大小不同的实像。若物的中心P偏离透镜的光轴，则所成的大像和小像的中心P′和P″将不重合，但小像位置比大像更靠近光轴（如图4所示）。就垂直方向而言，如果大像中心P′高于小像中心P″，说明此时透镜位置偏高（或物偏低），这时应将透镜降低（或把物升高）。反之， 如果P′低于P″，便应将透镜升高（或将物降低）。 调节时，以小像的中心位置为参考，调节透镜（或物）的高低，逐步逼近光轴位置。当大像中心P′与小像中心P″重合时，系统即处于共轴状态。 当有两个透镜需要调整（如测凹透镜焦距）时，必须逐个进行上述调整，即先将一个透镜（凸）调好，记住像中心在屏上的位置，然后加上另一透镜（凹），再次观察成像的情况，对后一个透镜的位置上下、左右的调整，直至像中心仍旧保持在第一次成像时的中心位置上。注意，已调至同轴等高状态的透镜，在后续的调整、测量中绝对不允许在变动。 【实验内容】 1．用位移法测定凸透镜焦距 将光源、物、待测透镜、屏放置在光具座上。调节各元件使之共轴。对公式（3—1—2）中未知量进行测量。测三次，求出每次测量的焦距值和平均值。 2．用自准直法测定凸透镜的焦距 用平面反射镜替换屏，根据自准直法原理测量透镜焦距。 3．用物距—像距法测定凹透镜焦距 （1）按图3所示，使物经凸透镜成缩小的像于屏上。 （2）在凸透镜与屏之间放入凹透镜，量出凹透镜与屏的距离S。 （3）凸透镜、凹透镜不动，移动屏直至成一清晰的实像，量出凹透镜与屏的距离S＇。 （4）重复测量三次，用公式（3—1—1）计算出凹透镜焦距和平均值。 数据处理： 用位移法测定凸透镜焦距 次 数 物 透镜位置1 透镜位置2 像屏 A （cm） L （cm） f （cm） 1 2 3 焦距的平均值 自准直法 次数 物 透镜 f（cm） 1 2 3 焦距的平均值 物距—像距法测定凹透镜焦距 次数 A＇B＇位置 A″B″位置 L2位置 S（cm） S＇（cm） f（cm） 1 2 3 焦距的平均值 【实验步骤】 调节系统共轴 粗调： 先