智能化仪器原理和应用第2章.pptVIP

第2章 智能仪器典型处理功能及实现方法 ;2.1 智能仪器故障的自检 ;　　2) 周期性自检 　　系统仅在开机时进行一次性的自检，并不能保证在以后的工作过程中仪器不会出现故障。为了使仪器一直处于良好的工作状态，可以采用周期性自检的方式。周期性自检是将仪器的自检分成若干项，程序设计时安排在仪器的每次（或几次）测量间隙插入一项自检操作。这样，经过多次测量之后便可完成仪器的全部自检项目，周而复始。由于这种自检是自动进行的且不影响仪器的正常工作，因此通常不为操作人员所觉察（除非发生故障而告警）。 ;　　3) 键控自检 　　除了上述两种自检外，还可以在仪器的面板上设置“自检”按键，即当用户对仪器的可信度产生怀疑时，可通过按下该键来启动一次自检程序，微处理器根据按键译码后转到相应的自检程序执行自检操作，这就是键控自检。键控自检是一种人工干预的检测方式。  　　在上述几种不同方式的自检过程中，如果发现仪器出现某种故障，仪器自身通常会以适当的形式发出指示。智能仪器一般都通过其面板上的显示器，以文字或数字的形式显示出错代码。出错代码通常以“Error X”字样表示， 并常常用发光二极管伴以闪烁信号，以引起注意。其中“X”为故障代号，操作人员根据出错代码，通过查阅仪器使用手册便可确定故障内容以及故障处理的方法。 ;2.1.2　自检的方法 　　1. ROM或EPROM的检测 　　由于智能仪器中的ROM或EPROM是用来存放仪器的控制程序的，是不允许出故障的，因而对ROM或EPROM的检测是至关重要的。ROM或EPROM故障的检测一般采用“校验和”的方法，其具体的做法是：在将仪器程序机器码写入ROM或EPROM的时候，保留一个单元（一般是最后一个单元）。此单元不是用于写程序代码，而是用于写入“校验字”。“校验字”应能满足ROM或EPROM中所有单元的每一列都具有奇数个“1”。自检程序的内容是： 对每一列数进行异或运算，如果ROM或EPROM无故障，各列的运算结果应都为“1”，即校验和等于FFH。这种算法见表2－1所示。 表中ROM地址的前7个（0～6）单元是程序代码，最后一个单元内容为对应于上面程序的奇数校验使ROM中的每一列的“1”为奇数个）。这样，ROM的校验和即FFH。  ;表2-1 校验和算法示意 ;　　2. RAM的检测 　　数据存储器RAM是否正常是通过检验其“读写功能”的有效性来体现的。通常可选用特征字55H）和AAH），分别对RAM的每一个单元进行“先写后读”的操作， 其自检的流程图如图2-1所示。 ;图2-1 RAM自检流程图 ;　　基本方法是：先将55H（或AAH）写入RAM的一个单元，然后从该单元中读取数据，并与55H（或AAH）相比较。若不相符， 则显示出错并给出出错单元地址；若相符，则再写入AAH（或55H），然后从该单元中读取数据，并与AAH(或55H) 相比较。 若不相符，则显示出错并给出出错单元地址；若相符，则修改地址指针，用同样的方式对下一个单元进行“读写”检测。依此类推，直到最后一个单元检测完毕即可结束。 ;　　3. 总线的自检 　　大多数智能仪器中的微处理器总线都是经过缓冲器再与各I/O器件和插件等相连接的，这样即使缓冲器以外的总线出了故障，也能维持微处理器的正常工作。这里所谓的总线自检， 是指对经过缓冲器的总线进行检测。由于总线没有记忆能力， 因此总线自检中设置了两组锁存触发器，用于分别记忆地址总线和数据总线上的信息。这样，只要执行一条对存储器或I/O设备的写操作指令，地址线和数据线上的信息便能分别锁存到这两组触发器（地址锁存触发器和数据锁存触发器）中。我们通过对这两组锁存触发器分别进行读操作，将地址总线和数据总线上的信息与原有的输出信息进行比较，便可判知总线是否存在故障。具体实现的电路原理图见图2-2。 ;图 2-2 总线检测电路原理图 ;　　4. 显示器与键盘的检测 　　智能仪器的显示器、键盘等I/O设备的检测往往采用与操作者合作的方式进行。检测程序的内容为：先进行一系列预定的I/O操作，然后操作者对这些I/O操作的结果进行检验。如果检验的结果与预先的设定（或设想）一致，就认为功能正常； 否则， 应对有关的I/O通道进行检修。  　　键盘检测的方法是，CPU每取得一个按键闭合的信号就反馈一个信息。如果按下某单个按键无反馈信息，往往是该键接触不良；如果按下某一排键均无反馈信号，则有可能与对应的电路或扫描信号有关。 ;　　显示器的检测一般有两种方式：一种是让各个显示器的所有发光段全部发亮，即显示出“888……”。当显示的内容表明显示器各发光段均能正常发光时，操作人员只要按任意键，显示器应全部熄灭片刻，然后脱离自检方