一种XLPE电缆料中杂质颗粒高分辨力测量的方法 Method of high resolution measurement for contamination particles in XLPE insulating compound.pdfVIP

下载本文档

15
0
约1.68万字
约 5页
2017-08-02 发布于上海
举报
版权申诉

一种XLPE电缆料中杂质颗粒高分辨力测量的方法 Method of high resolution measurement for contamination particles in XLPE insulating compound.pdf

1、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。。
2、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

一种XLPE电缆料中杂质颗粒高分辨力测量的方法 Method of high resolution measurement for contamination particles in XLPE insulating compound

第14卷第7期电机与控制学报 Voi．14No．7 2010年7月 ELECTRIC MACHINESANDCONTROL 2010 July 一种XLPE电缆料中杂质颗粒高分辨力测量的方法崔思海，赵洪，王暄 (哈尔滨理工大学电气与电子工程学院，黑龙江哈尔滨t50040) 摘要：通过分析透镜的成像规律，提出了一种利用光学系统的小孔对光的衍射作用，使像函数的特定部分进行了展宽，在不损失测量速度的情况下进一步提高交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘中杂质颗粒测量分辨力的新方法。在尺寸测量解算中利用三次样条函数对CCD像元输出进行插值，计算出闽值对应的位置，再由测量阈值计算出该值对应的像元位置。基于该原理工作的测量系统可获得分辨力 kg。该方法能够实现对高压交为20“m，准确度为±5岬的实际测量结果，并且测量速度约每小时1 联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘料和电缆超净生产中的杂质颗粒高速、高分辨力自动检测。关键词：高分辨力；准确度；杂质测量；电缆绝缘料中图分类号：rIF274 文献标志码：A 文章编号：1007—449X(2010)07—0087—04 Methodof resolutionmeasurementforcontamination high inXLPE particles insulatingcompound CUI ZHAO WANGXuan Si—hai， Hong， ofMechanical＆Power ofScienceand (School Engineering，HarbinUniversity Technology，Ha小in150080，China) lawsofthelens newmethodwith resolutionand of Abstract：Byanalyzing image，a high speedinspecting the inXLPE the diffractioneffectofthe contamination used particles insulatingcompound，whichpinhole lenstobroadenthe of inthis wereusedtoin— specialpartimagefunction，wasgiven paper．Cubicsplines the tocalculatethe of tocalculatethe CCD threshold，then terpolate imageoutput correspondingposition methodcan the ofsize ex— element raise measurement．In correspondingposi