射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质含量!试验部分-元素分析.PDF

第 卷第 期 冶 金 分 析 ， ’ % 4TPU’ 0TU% 年 月 ， ’ ! I/O1PPQE,R1P@71PN,N -ROTV/E ’ L S 文章编号： （ ） !#$%$!’%#(’#( !射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质含量 ! 罗湘宁 ，李友元，吴志华 （中铝股份广西分公司中心试验室，广西平果 ） %’!( 摘 要：对)射线荧光光谱测定氧化铝中杂质元素的方法进行了研究。利用系列标准样品制作工作曲线，采用混合熔剂四 硼酸锂加偏硼酸锂（ ）熔融制样法分析了 ， ， ，制备熔片的稀释比为 ；直接压片制样法分析了 ， !* +,- ./- 01- !2’ 3,- ’ ， ， 。 ， ， ， ， ， ， 测定结果的 分别为 ， ， ， ， 4 - 5- 67- +,- ./- 01- 3,- 4 - 5- 67- 8+9 :;! :;! :’’ (:; % % ’ % % ， 和 。该方法用于氧化铝生产控制及产品分析，数据准确、可靠，结果令人满意。 =:( =: !:$ 关键词： 射线荧光；压片；熔融；氧化铝；杂质 ) 中图分类号： 文献标识码： -;%$:’( ? 氧化铝作为氧化铝厂的最终产品，其化学成 器，最大输出功率 ’GH ，最大输出电压 ;G4。 分是衡量产品质量的重要指标。长期以来，国内 分析软件； )8.’=; 的各大氧化铝厂均采用国家标准或企业标准的化 F5#(?型半自动压样机（中科院长春光学 ［］ 学方法进行产品及过程控制的分析! ，所用试剂 精密仪器研究所）：最大压力 ，压力保持时 (I51 种类繁多，过程冗长，而且只能测定单一元素。 间可调； 很多国外铝厂采用)射线荧光光谱法测定 烘箱：可控温!’J ； 氧化铝中的杂质含量。澳大利亚把 射线荧光 高温炉：可控温 ； ) !!’J 光谱分析氧化铝中的杂质含量方法作为国家标准 铂 金坩埚（ ）及铂 金平盘；平盘