ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现 Research and Implement of Testing Method for ARM Cortex-M3 Based Microprocessors.pdfVIP

电 子 测 试 ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现 蒋常斌 生晓坤 李 杰 宋泽明 （北京自动测试技术研究所，北京 100088） 摘要：作为 32 位 RISC 微处理器主流芯片，ARM 芯片得到长足发展和广泛应用。因而，ARM 芯片的测试需求更加强劲的同时， 测试工作量在加大，测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARM Cortex-M3的微处理器测试方法，该方法也可用于类似结构的 微处理器测试。 关键词 ：ATE；ARM；Cortex-M3；IC测试；BC3192 中图分类号：TP20，TN30 文献标识码：B 文章编号： Research and Implement of Testing Method for ARM Cortex-M3 Based Microprocessors Jiang Changbin Sheng Xiaokun Li Jie Song Zeming （Beijing Auto-test Technology Institute，Beijing，100088） Abstract ： ARM，one of the most popular 32-bit RISC microprocessors，has been developed rapidly and got widely application.Therefore，the requirement for testing ARM is booming，the workload and complexity for testing ARM based processors is increasing as well.This paper presents a test solution for ARM Cortex-M3 based processors，which can also be applied to test microprocessors with the similar structure. Keywords ： ATE；ARM；Cortex-M3；IC Test；BC319 0 引言 有统一的测试规范。为了使测试具有通用性，我们有必要对微处 理器的测试建立一个统一的模型，如图 1 所示。芯片测试系统为 随着半导体技术的发展，集成电路制程工艺从深亚微米发 被测微处理器提供电源和时钟，并能够模拟微处理器的仿真通信 展到纳米级，晶体管集成度的大幅提高使得芯片复杂度增加，单 接口来控制微处理器工作，同时配合仿真时序施加激励向量，从 个芯片的功能越来越强。二十世纪 90 年代 ARM 公司成立于英 而达到测试目的。 国剑桥，主要出售芯片设计技术的授权。采用 ARM 技术知识产权 （ IP 核）的微处理器，即 ARM 微处理器，已遍及工业控制、消费 仿真/通信控制 类电子产品、通信系统、网络系统、无线系统等各类产品市场，基 于 ARM 技术的微处理器应用约占据了 32 位 RISC 微处理器七 模式控制 被测MPU 成以上的市场份额。ARM 芯片的广泛应用和发展也给测试带来 芯片测试系统 了挑战，集成电路测试一般采用实际速度下的功能测试，但半导 (ATE) 时钟 体技术的发展使得测试开发工程资源按几何规律增长，自动测 试设备（ATE）的性能赶不上日益增加的器件 I/O