带电粒子探测器与核电子学仪器.PDF

Charged Partical Detectors 三、带电粒子探测器与核电子学仪器 3.1 带电粒子的测量与探测器的基本类型 ORTEC 带电粒子硅探测器主要有金硅面垒和离子 注入两种工艺，其耗尽层厚度从 10 微米到几个毫米厚 不等。而根据其几何形状与是否全耗尽又有诸多类型。 选择合适的带电粒子探测器，除应用本身外，在探测 器上应从耗尽层厚度、结电容、漏电流、电子噪声、 能量分辨率等性能指标上综合权衡。 用于alpha 能谱测量的ULTRA 和ULTRA-AS 探测 器采用了表面钝化和离子注入工艺（即PIPS 探测器）， 该工艺的探测器有诸多优点：接触极更薄，更坚固； 低噪声，对Alpha 能谱分辨率好；使用边缘钝化技术， 可以使样品离探测器入射窗小到 1 毫米。而一般的面 垒型探测器最小只能达到2.5 毫米。所以该类型探测器 的效率要更高；常温使用，探测器窗可擦拭。 Ultra-AS 针对Ultra 的区别或改进是采用了进一步 低本底的材料，以专适于在ORTEC Alpha Suite 谱仪。 ULTRA-CAM 系列则是针对气溶胶连续监测设 计，探测器具有特殊密闭和抗潮性能。 Beta 能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC 提供以下两 种解决方案：1，Beta-X Si （Li ）一体化探测器（包含探头，冷指前放）；2 ，A 和L 系列可制冷的 厚硅探测器。 带电粒子探测器在核物理实验中的应用有诸多方面，ORTEC 在其探测器类型上都有相应的侧 重。比如重离子由于其高度电离和短径迹特性，需要探测器在前接触级具有强电场，适用的F 系列 探测器在前接触级的场强为20,000V/cm 。而对带电粒子的时间谱测量，需要用ULTRA 系列或能承 受超电压的强场局部耗尽探测器。 36 Charged Partical Detectors ULTRA与ULTRA-AS系列离子注入硅探测器 A 系列局部耗尽金硅面垒探测器 37 Charged Partical Detectors B 系列全耗尽金硅面垒探测器 C 系列环形局部耗尽金硅面垒探测器 38 Charged Partical Detectors D 系列平面全耗尽金硅面垒探测器 F 系列局部耗尽重离子金硅面垒探测器 L 系列锂漂移硅（室温）探测器 39 Charged Partical Detectors R 系列加强型局部耗尽硅探测器 L Mount Moun types of Charged particle detectors 40