用阶跃恢复法测量半导体二极管少数载流子寿命-复旦大学物理教学.PDF

用阶跃恢复法测量半导体二极管少数载流子寿命 邵剑 指导老师：陆昉教授 （复旦大学物理系上海 200433 ） 摘要 本文介绍一种简易的电学方法，用以测量半导体二极管中的少数载流子寿命，通过对 于PN 结二极管的阶跃恢复特性曲线的测量，并用线性拟合出其少数载流子寿命。此方法具 有设备简单，易于操作等优势。在之前的文献中对使用阶跃恢复法测量少数载流子寿命做了 介绍。在本文中，使用阶跃恢复法对二极管的少数载流子寿命进行了实际的测量，并与用反 向恢复时间法测量的结果进行了比较，得到了较为可信的结果。 关键词：二极管 少数载流子寿命 阶跃恢复法 反向恢复时间法 引言 方法便捷有效。但是它受脉冲信号源上升时 间的限制，当少数载流子寿命小于其上升时 随着社会的发展，半导体技术在能源与 间时，此种方法不再有效。但是由Krakauer[1] 信息领域扮演着越来越重要的角色，而少数 提出的利用二极管在正弦波的作用下电荷 载流子寿命是半导体材料和半导体器件的 储存阶跃恢复特性测量二极管的寿命，方法 一个重要参量，其对晶体三极管，太阳能电 简单，且可测得更大范围的少数载流子寿命。 池等有重要影响。所以它经常被作为判断半 本文就将用阶跃恢复法测量少数载流 导体器件是否满足特定要求的依据。 子的寿命，并将结果与反向恢复时间法的结 目前，测量半导体中的少数载流子的方 果做初步的比较。 法有很多，如从测定半导体材料光电导和光 磁效应来计算少数载流子寿命，通过测定少 数载流子扩散长度来计算少数载流子寿命 实验原理 等。但是这些方法都需要复杂的仪器设备的 阶跃恢复法：二极管两端加上一个正弦波的 支持。 电压信号Ep sin ωt后，可以用示波器观察到 利用测定二极管从正向偏压到反向偏压的 其电流的瞬态特性。理想的开关二极管（即 瞬态特性中的储存时间，也可以获得少数载 在此正弦波电压信号下没有电荷储存），此 流子寿命。而且这种方法所用的设备简单， 信号应为正向导通，没有反向电流，并且与 信号源的信号没有相位差（如图 1a 所示）。 在正向导通时， 但是当二极管有电荷储存时，在其反向半波 ip,f = Ep −ϕ0 = Ep (1 −ϕ0) R R E c c p 内，有一个短暂的导通过程，然后迅速截止 于是有 （如图1b 所示）[2][3]。 ϕ0 i (1 −E ) p,r p