X射线管+皮安表直流法测量WELL-THGEM增益均匀性准直孔-Indico.PPTVIP

井型THGEM的研究 刘宏邦，刘倩，洪道金，俞伯祥，陈石 谢一冈，郑阳恒 中国科学院大学 广西大学 中科院高能所 * 2014 第四届微结构气体探测器研讨会,威海 Outline DHCAL WELL-THGEM WELL-THGEM研制 WELL-THGEM 性能研究 WELL-THGEM束流实验 大面积WELL-THGEM的几点考虑 工艺 大面积均匀性测试 高计数率 ASIC数字读出 * * ILC/ CEPC对强子量能器提出更高的要求，需要提高测量JET的能量分辨: 60%/√E ? 30%/√E DHCAL : 数字取样型量能器 + PFA重建算法能有效提高jet的能量测量精度 要求探测器厚度薄，高探测效率，分区方便，紧凑，耐放电 RPC，Double-GEM，Micromegas，THGEM THGEM具有易于制造维护、清洁要求较低、级联使用方便、相对价廉等优点 ,在亚mm空间分辨的粒子径迹测量上有较大的优势 from CALICE studies Simulation of W, Z reconstructed masses in hadronic mode. 60%/?E 30%/?E DHCAL * From A. Breskin, 2013 arXiv:1310.6183 WELL-THGEM * Globe etching (micro etching) No holes in this area Drilling 整版微蚀 ? 腐蚀底层铜箔 ? 粘接 WELL-THGEM研制 * WELL-THGEM性能研究-I 增益 2.3×103 @580V（Ar/iC4H10(97/3) 能量分辨 ~25% * WELL-THGEM性能研究-II X射线管+皮安表直流法测量WELL-THGEM增益均匀性 准直孔直径 3mm 增益均匀性误差 4.2% * WELL-THGEM束流实验 * 动量-500MeV TOF 基线 Proton Pion P * WELL-THGEM性能研究 实验过程中利用55Fe对探测器增益稳定性刻度，误差小于3% 600Mev 700Mev 800Mev 600Mev 700Mev 800Mev * 小孔 or 大孔 ？ 小rim or 大rim？ 30×30cm 205,000 holes ~4 days drilling 大面积WELL-THGEM的几点考虑 d=400 μm 300 μm 500 μm 600 μm t=0.5mm t=1.0mm 大面积WELL-THGEM 的工艺 整版微蚀 侧蚀 电化学腐蚀 THGEM 质量检测系统 四路高压控制 + nA电流读出 THGEM的粗略判断标准 (厚度200um) ?V 600V@ Ar/iC4H10 97/3，5min内无放电 ?V 1600V@ N2 ，5min内无放电 * WELL-THGEM ?? 增益均匀性 薄型THGEM增益均匀性较好，均匀性误差小于5% 铜靶X光管 二维移动平台 20×20cm2 THEGM腔室 * 高计数率WELL-THGEM 电离模式测量X-ray计数率 ～1MHz/cm2 * 高计数率WELL-THGEM * WELL-THGEM ?? ASIC数字读出 CARIOCA,GASTONE 数字读出前放板 CRIOCA FEE 微孔 THGEM FPGA * 谢谢! * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * *