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材料测试方法复习提纲 1、大功率转靶衍射仪与普通衍射仪相比，在哪两方面有其优越性？ eq \o\ac(○,1)方便、快速、准确、制样方便 eq \o\ac(○,2)可自动进行数据处理 2、何为特征X射线谱？特征X射线的波长与（管电压）、（管电流）无关，只与（阳极材料）有关。 特征X射线谱: 由一系列线状谱组成，它们是因靶 HYPERLINK /view/19993.htm \t _blank 元素内层电子的跃迁而产生，每种元素各有一套特定的标识谱，反映了 HYPERLINK /view/21855.htm \t _blank 原子壳层结构 的特征。 3、什么是Kα射线？在X射线衍射仪中使用的是什么类型的X射线？ Kα射线是电子由L层跃迁到K层产生的射线。Kα谱线又可分为Kα1和Kα2， Kα1的强度是Kα2强度的2倍，且Kα1和Kα2射线的波长非常接近，仅相差0.004?左右，通常无法分辨， 在X射线衍射仪中使用Kα射线。 4、Al是面心立方点阵，点阵常数a=4.049?，试求（111）和（200）晶面的面间距。 5、说说不相干散射对于衍射分析是否有利？为什么？ 不利。不相干散射由于波长各不相同，在衍射工作中形成连续的背景，不相干散射的强度随sinθ/λ的增大而增强，而且原子序数越小的物质其不相干散射愈大，造成对衍射分析工作的不利影响。 6、在X射线衍射分析中，为何要选用滤波片滤掉Kβ射线？说说滤波片材料的选取原则。实验中，分别用Cu靶和Mo靶，若请你选滤波片，分别选什么材料？ 许多X射线工作都要求用单色X射线，由于Kα谱线的强度高，一般总是选用Kα谱线；但从X射线管中发出的X射线中，当有Kα 线时必定伴有Kβ射线及连续光谱，这对衍射工作是不利的，必须设法除去，常用滤波片来达到之一目的。 选取原则：当Z靶≤40时，Z滤= Z靶-1；当Z靶40时， Z滤= Z靶-2. Cu靶时选镍；Mo靶时选锆。 7、产生衍射的两个基本条件是什么？ eq \o\ac(○,1)必须有能够产生干涉的波动即要有X射线 eq \o\ac(○,2)必须要有周期性的放射中心即晶体中的原子 X射线衍射产生的充分必要条件： eq \o\ac(○,1) X射线衍射产生的必要条件是必须满足 Bragg方程； eq \o\ac(○,2) X射线衍射产生的充分条件是结构因子不等于0。 8、画图说明何为衍射峰的积分强度、峰值强度、背景及半高宽。 9、结构因子的计算公式为F=fje2Лi(hxj+kyj+lzj)，该式表明：结构因子与（晶胞中原子的种类）、（单胞中原子个数）、（ ）、（ ）等四个因素有关。 10、XRD粉末样品必须满足的两个条件是什么？ XRD对粉末样品有何要求？粉末样品为什么不能太粗也不能太细？ 条件： eq \o\ac(○,1)晶粒要细小 eq \o\ac(○,2)试样无择优取向(取向排列混乱)。 要求：粒度一般为44μm左右，或过300目筛。样品太少时，可用拇指和食指撮，无明显颗粒感即可。 原因：太粗时被射线照射体积内晶粒数减少，会使衍射线呈不连续状，由一些小斑点组成；太细时会使衍射线宽化，不便于后续测量。 11、 XRD对块状样品有何要求？ XRD能否直接测量断面？ 要求：待测面必须是平面，若样品可加工，最好加工成20X18的方块。 不能。因为XRD只能做粉末薄膜样品。 12、说说物相定性分析的程序及注意事项。 程序：a 样品制备； a 获取待测试样的衍射花样（也叫衍射谱线）； a 根据衍射线的位置计算各衍射线的晶面间距； a 估算衍射线的相对强度； a 查阅索引； a 核对卡片并确定物相。 注意事项：（1）实验条件影响衍射花样，因此要选择合适的实验条件； （2）、要充分了解样品的来源、化学成分、物理特性等，这对于作出正确的结论是很有帮助的； （3）、可以配合其他方法如电子显微镜、物理或化学方法等，联合进行准确的判定。 13、PDF卡片向我们提供了哪些有用的信息？ 信息：卡片序号，物质的化学式及英文名称，拍照时的条件，物质的晶体学数据，光学性质数据，式样来源，制备方法，拍照温度，面间距，米勒指数及相对温度。 14、在进行物相定性分析时，送样时应向实验人员提供哪些信息？ ? 待分析项目和所要的图形格式； ? 试样的来源、化学组成和物理特性等，尤其是化学组成； ? 要确定样品中含量较少的物相时，可用物理或化学方法进行富集浓缩。 ? 样品有择优取向时，必须说明。 ? 尽量将XRD分析结果和其他分析方法结合起来，如TEM、偏光显微镜等。 15、光学显微镜用（可见光）做照明源，其最小分辨率为（200nm）；电子显微镜以（聚焦电子束）做照明源，其分辨率可