埋栅型静电感应器件研制中的外延技术 epitaxial technology for buried-gate static induction device.pdfVIP

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  • 2017-08-12 发布于上海
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埋栅型静电感应器件研制中的外延技术 epitaxial technology for buried-gate static induction device.pdf

埋栅型静电感应器件研制中的外延技术 epitaxial technology for buried-gate static induction device

器件制缝扇应冈 ofDevice M柚Ⅱlk劬gmdAppliatim 埋栅型静电感应器件研制中的外延技术 雷景丽1,李思渊2,李海蓉2,李海霞3 (1.兰州理工大学理学院,兰州730050;2.兰州大学物理科学与技术学院,兰州730000; 3.中国科学院中国近代物理研究所,兰州730000) 摘要:对电力埋栅型静电感应晶体管关键工艺外延进行了深入研究,提出了在低阻P型衬底 000 上制备高阻n型外延层的工艺方法,使外廷层的方块电阻达到40 Q/口。实验证明,该方法 能有效抑制自掺杂效应和扩散效应,避免了外延过程中可能出现的反型。研制的电力埋栅型静电 V。 感应晶体管,-y特性良好、栅源击穿电压达到70v,阻断电压迭至,1600 关键词:工艺;外延层;反型;自掺杂 中图分类号:TN304.054文献标识码:A

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