adc与dac实验--李宗德.pptVIP

模数转换器和数模转换器原理及实验;本讲内容： ADC基础知识 ADC0804实验 DAC基本知识 DAC0832实验 总结;第一部分：ADC基础知识;所谓模数转换，就是将模拟信号（电压或电流）通过模数转换器（Analog-to-Digital Converter，ADC）转换成数字电路（例如单片机）可以处理的数字量 形象的说，ADC就是一个单片机可以对其进行读取的数字电压表（电流表）; A/D转换的过程就是用模拟量A与参考量R比较的过程，因此，电压比较器就成了A/D转换器中重要部件。;;ADC精度n位，参考电压Vref，待测电压Vin，ADC输出数据N;ADC的主要技术指标;转换精度：采用分辨率和转换误差来描述。 精度越高越好，但对电源质量、电压基准源精度要求越高。 分辨率习惯用输出二进制位数或者BCD码位数表示。也可以用满刻度值与 之比来表示，也就是1LSB （最低有效位） 。 常见的ADC精度：低精度，8位，10位，12位；高精度，14位，16位；极高精度，18位，24位。 有效数字转换表：三位半(-1999~+1999)，1112位；四位半，1516位；五位半，1819位；六位半，2122位 例如：若满量程为10V，根据分辨率定义则分辨率为10V/ 。设8位ADC，即n=8，分辨率为10V/256=39.1mV。 转换误差：通常以输出误差最大值的形式给出，它表示实际输出的数字量和理论上应有的输出数字量之间的差别，一般多以LSB的倍数给出。;单片机内置ADC 某些型号的单片机、DSP、ARM将ADC集成到芯片内部，ADC相当于单片机的一个片上外设，通过寄存器对ADC进行操作。 AVR、MSP430、PIC单片机均有内置的ADC MCS51出现的时间比较早，没有内置ADC 独立的ADC芯片 接口类型：并口(Intel总线)、SPI接口、IIC接口 电源电压：低电压型(兼容数字电源的1.8V、3.3V、5V)，高压型(6V~30V) 电源极性：单电源(0~+Vdd)，双电源(-Vee，+Vdd) 通道数：单通道、一般多通道(通过多路复用的模拟开关切换)、独立多通道(相当于一个芯片内部包含多个ADC);工作原理：直接，间接 尽管A/D转换器种类很多，但是目前应用较广泛的主要有以后下几种：逐次逼近式转换器，双积分式转换器，Σ-Δ式转换器和V/F转换器。 逐次逼近型，在精度、速度和价格上都适中，是最常用的A/D转换器件。 双积分型A/D转换器，具有精度高、抗干扰性能好、价格低廉等优点，但转换速度慢。 Σ-Δ式转换器具有积分式与逐次逼近式ADC的双重优点。 V/F转换器适用于转换速度要求不高，需进行远距离信号传输的A/D转换过程。;独立ADC芯片 ADC0804:8bit,25ksps,单通道 ADC0809:8bit,25ksps,1X8通道 ADS8370:16bit,600ksps,单通道,内置4.096V电压基准 MC14433:三位半,1-10次/秒(双积分型) ICL7109:12bit,30次/秒(双积分型) 集成ADC AVR:10bit,15ksps,1X8通道,内置1.15/2.5V电压基准 MSP430:12bit,200ksps,1X8通道,内置1.5/2.5V电压基准 TMS320F2812:12bit,5Msps,2X8通道,内置2.5V电压基准 LPC2148:10bit,400ksps,1X8通道,无内置电压基准 ;如何选取ADC？;拓展：采样定理;奈奎斯特准则 1.为避免信息丢失，带宽为fa的模拟信号必须以fs2fa的采样速率进行采样。 2.若fs2fa，则模拟信号带宽中将发生混叠现象。 注意：取样频率越高，转换时间就越短，转换电路必须有更快的速度。通常取fs=(3~5)fa。;第二部分：ADC0804实验;管脚功能说明 Intel总线接口 A/CS：芯片选择信号。 VREF：辅助参考电压。 /WR：用来启动转换的控制当/WR自’1’变为’0’时，转换器被清除；当/WR回到’1’时，转换正式启动； /RD：外部读取转换结果的控制脚输出信号。 DB0~DB7：8位数字输出。 /INTR：中断请求信号输出，低电平有效 AGND，DGND：模拟信号以及数字信号接地。 CLK IN，CLK R：时钟输入或接振荡元件(R，C)，频率约限制在100KHz~1460KHz VIN(+)，VIN(-)：差动模拟电压输入。输入单端正电压时，VIN(-)接地；;时序;时序;ADC0804操作流程 启动一次转换 WR的低电平作为启动信号，可以通过Intel总线写入一字节任意的数据来实现。 等待转换完成： 常态以及正在转换数据状态时，INTR引脚保持为