智能仪器第6章 自动校准和自诊断技术.ppt

第六章 自动校准和自诊断技术 6.1 误差校准与故障诊断 系统误差与自诊断 测量误差包括系统误差和随机误差。系统误差是由于仪器内部和外部的固定不变或按确定规律变化的因素的作用造成的。随机误差由外部造成，系统误差为系统固有。 一般采用软硬件滤波减小随机误差，采用校准方式减小系统误差。 校准通常有两种实现方法。 1.1 系统误差的消除 根据系统误差的变化规律，采用一定的测量方法或计算方法，将它从仪器测量结果中扣除。 与高精度仪器对比进行校准。用准确度高的标准仪器去修正准确度低的被测仪器。有下面两种方法 ： (1) 采用同类型标准仪器进行比对校准 (2) 用标准信号源进行校准 2 故障检测与诊断 2.1 故障产生的原因 1）外部：强电磁场、电网冲击、震动、温湿度等造成元器件损坏、短路、断路。 2）内部：系统老化，长时间造成元器件参数漂移和软件故障。 2.3 故障处理的方法 1）冗余技术：利用备用装置消除故障的影响。 2）故障测试：在故障发生时，及时发现和排除故障。 a）故障检测：仅检测系统是否出错。 b）故障诊断: 检测出错位置，难度极大。 2.2 故障检测的原理 给被测对象施加激励，根据其输出响应信号判断是否存在故障，所加的激励称为测试矢量或测试码，输出响应信号称为响应矢量或响应序列。 仪器故障的自检 1）检测部件：仪器的数字电路、模拟电路、软件。 2）检测方式：开机自检，周期性自检，键控检测。 仪器的故障自检原理图 6.2 仪器的内部自动校准 系统误差主要存在于模拟通道（如衰减器、放大器、滤波器、S/H、AD）中，随参数改变或温度及时间产生漂移，集中反映在零点漂移和倍率变化上。 1）零点漂移：输入为0，输出不为0。 2）倍率变化：输出和输入的比率出现偏离。 模拟量测量通道的零点漂移和倍率变化 模拟通道的内部自校准原理图 2.1零点漂移电压电压Vos不变 1）S1 闭合，S2、S3断开：D0 = K Vos 2）S3 闭合，S1、S2断开：D1 = K ( Vi + Vos) 3）计算：D = D1 – Do = KVi 2 零点漂移的内部自动校准 2.2 零点漂移电压变化Vos时 1）S1 闭合，S2、S3 断开： D1 = K Vos1 2）S3 闭合，S1、S2 断开： D2 = K ( Vi + Vos2) 3）再次S1 闭合，S2、S3断开： D3 = KVos3 4）计算： Vos2 = V0s1 + ( t2 – t1 ) Vos3 – Vos1 t3 – t1 D = K Vi = D2 – KVos2 = D2 – D1 – ( D3 – D1 ) t2 – t1 t3 – t1 倍率偏移的内部自动校准 Vos =0。 K不变。 Vref已知。 1）S2 闭合，S1、S3 断开： Dref = K Vref 2）S3 闭合，S1、S2 断开： D1 = K Vi 3）计算： D1 Dref Vi Vref Vi = Vref D1 Dref = 4 仪器内部自动校准 Vos、 Vref 、K不变。 1）S1闭合，S2、S3 断开：Dos = K Vos。 2）S2 闭合，S1、S3 断开：Dref = K ( Vref + Vos) 3）S3 闭合，S1、S2 断开：Dx = K ( Vi + Vos) 4）计算： D1 = Dref - Dos = KVref D2 = Dx - Dos = KVi D = = D2 D1 Vi Vref Vi = DVref = Vref Dx - Dos Dref - Dos 6.3 仪器的外部自动校准 仪器的外部校准可采用自动校准系统来完成。它由控制器、多功能校准源、打印机和被校准仪器组成。 联络总线（3根） 管理总线（5根） 数据总线(8根) 校准信号 常用的自检技术 6.4 仪器中数字电路故障自检 1) 扫描设计技术：时序电路=触发器 + 组合电路。将电路板中含有时序电路的