高功率半导体量子阱激光器测试中的突变性损伤.pdfVIP

维普资讯 第 23卷 第 5期 发 光 学 报 Vo1．23 No．5 2002年 1O月 CHINESEJOURNAIOFLUMINESCENCE Oct．，2002 文章编号：1000—7032(2002}05．0477．04 高功率半导体量子阱激光器测试中的灾变性损伤 曹玉莲 ，王 乐2，潘玉寨 ，廖新胜 ，程东明 ，刘 云 ，王立军 卜 (1．中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林 长春 130022； 2．吉林大学 电子科学与工程学院，吉林 长春 130026) 摘要：在使用综合参数测试仪测试808nm发射的半导体量子阱激光器的过程中，出现了一种由电浪涌所导