铁氧体材料标准化阻抗的测量方法与原理 measuring method and its principle of normalized impedance of ferrite materials.pdfVIP

铁氧体材料标准化阻抗的测量方法与原理 张忠仕，汪伟，陈文，李卫 (绵阳开元磁性材料有限公司，四川绵阳621000) 摘要：阐述了材料标准化阻抗的测量方法与原理。研究分布电容co对绕线法测量结果的巨大影响，指出 Co可能使线圈的等效电感变为本身串联电感的很多倍，也可能使线圈的总等效电感变为负值。提出测量线圈分 布电容的方法，给出绕线法测量时修正c0影响的方法。对终端短路同轴腔测量磁谱和材料阻抗的计算公式进行 了推导。 关键词：材料的标准化阻抗zN；测量方法；分布电容co；终端短路同轴腔 中图分类号：TMl 文献标识码：B 文章编号：1001．3830(2010)06．0055．05 是文献[1】中的(21)式表明的关系。在此强调一下， 1引言 z的基本单位为Q，磁心常数C，的单位为m_1时， 磁性器件在抗EMI中起着十分重要的作用， ZN的单位显然应为Q／m，也可化为Q／cm等。 而软磁铁氧体又是制备抗EMI器件的一种优良材 如果Ⅳ为1匝，测得磁心阻抗zC，可用下式 料。对于用作抗EMI的铁氧体来说，标准化阻抗 计算zk： ZN是一个特别重要的材料参数。影响电感器阻抗 ZN=C1Zc 频率特性的主要因素除其绕组匝数Ⅳ、分布电容 2．2 Co不可忽略时ZN的测量 co及磁心常数Cl外，所用磁心材料的标准化阻抗 在线圈的铜损及其分布电容可以忽略不计时， ZN起着关键性的作用。为了表征各种铁氧体材料 (1)式和(2)式都是正确的，用仪器测出的阻抗 的抗EMI能力，应该给出它们的ZN值或ZN随频 Z可视作由材料的复数磁导率造成的。当频率升高 率的变化曲线进行比较。如果只给出磁心的单匝阻 或匝数Ⅳ较多，分布电容的影响增大时，这时由 抗ZC或多匝绕组线圈的阻抗Z，因为没消除匝数 仪器测得的阻抗值受分布电容的影响很大。虱与 Ⅳ、分布电容C0及磁心常数Cl的影响，所以不能 测得的线圈阻抗Z之间的关系不能再简单地用(1) 确切表明材料的抗电磁干扰能力。本文介绍铁氧体 式表示。也就是说，这时用仪器测得的阻抗已不再 材料标准化阻抗ZN的测量方法。 代表磁心的等效电感和等效电阻构成的阻抗了，它 2材料标准化阻抗ZN的绕线法测量 还包含有分布电容的影响。 分析线圈分布电容C0对阻抗测量的影响，可 2．1线圈分布电容C0可忽略时ZN的测量 采用图1所示的等效电路模型。图l中厶代表磁 一般都是用阻抗分析仪或LCR及LCZ测试仪 心产生的纯电感￡’，R。代表磁心的等效损耗电阻， 测量磁心上绕组线圈的阻抗Z，然后用Z计算出磁 设铜损电阻忽略不计。c0为绕组的分布电容。由 心材料的标准化阻抗ZNu】。在磁路闭合的磁心上 图l很容易得出其等效阻抗2．，经整理后得到： 绕Ⅳ匝线圈，测量出绕组线圈的阻抗z，如果线圈 的分布电