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11. Stratix IV 器件中的 SEU 缓解 2? 2011? SIV51011-3.2 SIV51011-3.2 ® 本章介绍了当 Stratix IV 器件处于用户模式时，对如何使用错误检测循环冗余检查 (CRC) 功能，以及从 CRC 错误中恢复作了描述。Stratix IV 器件中的错误检测 CRC 功 能的作用是检测在该器件中由于软错误引起的任何的配置随机访问存储器 (CRAM) 位中 的翻转。通过使用错误检测电路，可以连续的验证配置 CRAM 位的完整性。 在关键的应用中，例如航空电子设备、通讯、系统控制和军事的应用，要求能够做到 以下两点： ■ 确定存储在 Stratix IV 器件中的配置数据是正确的。 ■ 使系统能够警惕配置错误的发生。 1 Stratix IV 器件系列增强了错误检测功能。与Stratix III器件相似，当与Stratix II 器件对比时，Stratix IV 器件中的单粒子效应 (SEU) 的错误检测和恢复时间减少了。 f 要了解关于提高 Stratix IV 器件的错误检测的测试方法的更多信息 , 请参考 AN 539: Test Methodology of Error Detection and Recovery using CRC in Altera FPGA Devices。 内置在 Stratix IV 器件中的专用电路，具有 CRC 错误检测功能，能够有选择的对 SEU 进行连续和自动的检查。 1 对于Stratix IV器件，Quartus® II软件8.0和以后的版本中提供了错误检测CRC功能。 在 Stratix IV 器件系列中使用错误检测 CRC 不会对器件的布线和性能产生影响。 本章包含以下几部分内容： ■ “ 错误检测基本原理” 第 11–2 页 ■ “ 配置错误检测” 第 11–2 页 ■ “ 用户模式错误检测” 第 11–2 页 ■ “ 错误检测管脚说明” 第 11–5 页 ■ “ 错误检测模块” 第 11–6 页 ■ “ 错误检测时序” 第 11–8 页 ■ “ 从 CRC 错误中恢复” 第 11–11 页 © 2011 Altera Corporation. All rights reserved. ALTERA, ARRIA, CYCLONE, HARDCOPY, MAX, MEGACORE, NIOS, QUARTUS and STRATIX words and logos are trademarks of Altera Corporation and registered in the U.S. Patent and Trademark Office and in other countries. All other words and logos identified as trademarks or service marks are the property of their respective holders as described at /common/legal.html. Altera warrants performance of i