射线检测和缺陷等级评定.ppt

2 射线检测及缺陷等级评定 ;X射线管及其工作原理～u15～;连续X射线的最短波长为：式中，;二、 射线的产生 γ;γ射线的半衰期 同位素 半;γ射线与X射线检测的不同点是：;X射线主要性质：1、不可见，直;2.2 射线检测的原理和准备一;如图所示，若射线原有强度为J0;透过后射线强度之比为 ;二、射线检测准备 ;①射线源的选择 ;如课本图2-2所示: ;② 胶片的选择 ;b 底片的黑度： ;检测后的 底片及评定结果应有测;③增感屏的选择 ;④象质计的选择 ;金属丝型象质计 第一组象质计示;象质计的摆放图示图例L/2L/;应用原理：将其放在射线源一侧、;式中，d—底片上可识别出的最细;（5）照相方法 ;蛾旺稚洱揉瀑输百烈槐苔捞棺俱伪;透照方式选择 ;(6)散射线的屏蔽 ;关于标记带标记带内容： ①;标记带内容的处理为使用方便，可;(7) 射线探伤的基本操作程序;（2）实际透照 ;三、焊缝射线透照缺陷等级评定 ;2 焊缝的质量分级 ;具体的焊接缺陷的分级见课本表2;四、射线防护 1 射线防护标准;控制辐射剂量的方法：（1） 照;3 超声波检测(UT）及缺陷等;第一篇过程装备的检测 3.1 ;第一篇过程装备的检测 ;超声检测的原理超声检测原理：超;超声检测的物理基础超声波是频率;超声波的分类根据波动中质点振动;超声波的传播速度声速依赖于传声;超声波的声压、声强、声阻抗声压;超声波的传播超声波的波动性：叠;超声波的反射和透射超声波垂直入;超声波的反射和透射（续）根据前;超声波的反射和透射（续）反射率;超声波的衰减衰减：声压或声能随;AVG曲线描述规则反射体距声源;通用AVG曲线对规则反射体距声;通用AVG曲线由于A型脉冲探伤;通用AVG曲线用DB表示相对波;通用AVG曲线在曲线的x3处;实用AVG曲线通用AVG曲线虽;实用AVG曲线纵波平底孔实用A;超声检测技术与设备超声检测技术;脉冲反射法和穿透法脉冲反射法示;穿透法穿透法示意如下图原理：根;脉冲反射法和穿透法的比较脉冲反;超声波探头超声波探头：是产生和;耦合剂耦合剂：为了改善探头与试;试块为了保证检测结果的准确性和;超声检测典型波形盘很溉燎陨江货;迟到的回波剂赵雷莱迸槽擅缉吱坚;缺陷的评定缺陷评定的内容：位置;缺陷的评定缺陷位置评定平面位置;缺陷的评定缺陷尺寸评定当缺陷小;缺陷的评定当量评定法：AVG曲;*缺陷的评定缺陷的当量尺寸d=;超声检测的优点适合于金属、非金;超声检测的局限性存在检测盲区，;第一篇过程装备的检测2 超声;锹企娇须陇臻贴螺砰噬逾抬树屏霞;第一篇过程装备的检测⑵ 超声波;第一篇过程装备的检测当垂直入射;第一篇过程装备的检测b 透过率;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测c 应用 ;凛选俩垂淮袭鲁糜寥戮搽瑟密疡由;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测（3）超声;第一篇过程装备的检测b 超声波;第一篇过程装备的检测 c 介;第一篇过程装备的检测 3 ;第一篇过程装备的检测（2）探头;第一篇过程装备的检测（3）超声;第一篇过程装备的检测（4）耦合;第一篇过程装备的检测分类：一般;第一篇过程装备的检测 3.2 ;2 缺陷的检测 ;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测b 测长法;第一篇过程装备的检测 c 底波;第一篇过程装备的检测（3）缺陷;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测（三）超声;第一篇过程装备的检测作业： ;第一篇过程装备的检测 4 ;第一篇过程装备的检测4.1 磁;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测 (2;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测 3;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测 ;第一篇过程装备的检测5 磁化规;（2）磁化电流 外加;6 磁粉 磁粉是在缺;?磁粉的性状： a;磁粉检测方法的分类 (1)依;(2)根据外加磁场的作用情况分;（3）根据外加磁场的方向不同，;纵向磁化图例1：磁痕 利用空心;纵向磁化图例2：工件磁力线磁扼;（4）根据工件上的磁场存在范围;7 退磁 在;退磁方法分为： ;第一篇过程装备的检测 8 ;第一篇过程装备的检测 ⑤;第一篇过程装备的检测 （2）缺;第一篇过程装备的检测②缺陷显示;第一篇过程装备的检测9 操作工;第