TPsensorSITO型号教材.docVIP

LCD前製程SITO型號教育訓練教材 一: 前言 二: SITO型號的流程 三: 各站的工藝原理及管控重點 四: 利用七條學習方法逕行簡述 前言 隨著科技的不斷發展,人們生活水平的不斷提高,物質的需求也發生了很大的變化,通訊也快速的發展,我們所使用的通訊設備也不斷的在更新換代,從黑屏到彩屏至到觸控屏,一步一步的發展,我們目前作業的是電容式TP型號,也就稱謂SITO型號,下面給大家簡單的講解以下LCD前製程的製作工藝和原理流程. SITO型號的流程:(依1598-K3版為例) 各站圖示說明 (一). 拋光來料 (二). H-ITO作業SIO2+ITO-1製程 (三). 反射板作業ITO-1圖形和對位記號 ITO-1圖形 對位記號圖形 (四). 反射板作業OG製程(五). H-ITO作業ITO-2 (六). 反射板作業ITO-2 (七). H-ITO作業MO-AL-MO製程 (八). 反射板作業MO-AL-MO圖形 (九). L-ITO作業SIO2 (十). H-ITO作業B面ITO (十一). A面可剝膠 (十二). B面可剝膠 各站的工藝原理及管控重點 (一). H-ITO作業A面ITO-1： 拋光來料: SITO型號產品來料為拋光廠,有上一站提供300*350*0.55的TN產品. (1). H-ITO入料 在入料時要重點確認產品的外觀有無崩缺角,污染等不良.及時將不良挑出有效的防止不良流出. 330清洗線: 目的:通過磨刷的清洗,加入NAOH洗劑,在通過一系列的高壓水洗,循環水洗,純水洗,將殘留在產品表面的贓物清潔乾淨,有利於SIO2+ITO-1的濺鍍. 管控重點:入料的速度,玻璃之間的間距,水洗線的壓力,流量,溫度, 330水洗線實物圖片 1.1為甚麼要管控入料的速度, 玻璃的間距和水洗線的溫度,流量,壓力不管控有何影響? 因為速度過快會導致產品清洗不乾淨影響鍍膜,還會導致追卡板使產品報廢,玻璃之間的間距為兩個滾輪,放的太近會導致卡板,放的間距太遠會影響產能,水洗線的溫度和流量,壓力有異常均會導致產品清洗不乾淨,溫度過高會導致水分蒸發,使脫肪液濃度升高,會使藥液殘留在產品上,溫度太低起不到清洗的效果,流量大浪費資源,流量太小玻璃清洗不乾淨,影響鍍膜的質量,會造成膜質不佳,所以要嚴格管控水洗線的參數. (3) 收料 目的:將水洗線清潔後的產品利用300瓦的強光燈進行檢查,將有污染,崩缺角,發籃有異常的產品及時的逕行挑出,防止不良流入下站. 管控重點:拿取產品時不得觸到CELL內,挾持玻璃的兩邊,需佩帶PE手套和魔鬼粘 水洗收料實物圖片 (4) 掛片 目的:將全檢後的產品掛到掛架上至鍍膜機鍍膜,注意掛片的手法,順序有上至下,有左至右. 管制重點:注意區分產品的正反面,防止鍍錯面,待鍍的 產品超過30分鐘未掛片重新水洗線清洗.嚴格管控產品的放置時間,產品會受到污染. 機台實物圖片 (5) 1020鍍膜機 鍍膜原理:靶材在一真空腔體內,將靶材接陰極,基板接正極或者接地,並導入AR?氣體 管控重點:腔體的真空度,機台的溫度,功率,線速,靶材壽命氣體的流量,玻璃的潔淨度.膜厚 1020鍍膜機實物圖片 (6) 收料 目的:對鍍膜后的產品用300瓦的強光燈逕行全檢,將有異常的產品逕行挑出,防止不良流入下一站. 管控重點:對產品的外觀進行嚴格的檢查 (7) 成檢 特性管控部分: 阻抗和穿透如下圖 H-ITO作業A面ITO-1時膜厚的要求為 SIO2=250±100 ITO=500±100 阻抗管控30±10 1.1 為甚麼要管控腔體的真空度,機台的溫度,功率,線速,靶材壽 命,氣體的流量,玻璃的潔淨度,不管控有何影響? 腔體的真空度直接影響產品的膜質,機台的溫度越高到達基板的原子會吸收熱能變為動能,溫度過低會導致膜質疏松,溫度過高會造成膜質氧化,功率越高,線速越慢,膜厚越高,功率低線速度快膜厚越薄,每班需點檢靶材的壽命,到時間需及時的更換,機板的潔淨度會影響原子與玻璃機板的附著力,直接影響膜質.所以要嚴格的去管控水洗線的清潔能力和產品放置的時間,如果膜厚越高就會導致產品在下一站的時候有殘留,膜厚越低就有脫落的可能性,所以要嚴格的去管控膜厚,更好嚴格的去管控機台的重要參數. 1.2 為甚麼要管控膜厚,阻抗,穿透,對品質有何影響?有品質異常該如何處理? 因為膜厚的高低,阻抗的大小對產品有直接的影響,膜厚高在作業ITO圖形時就會有殘留,膜厚低就會造成ITO的脫落等不良,