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电子产品的EMC整改方法实例 　　摘 要 　　EMC的各种指标是目前在所有标准要求的项目中，在产品设计时最难以达到的；由于EMC的设计经验较少，经常在设计完成之后才进行EMC的测试，一旦测试发现问题，会出现产品准备上市销售时EMC的问题总是没有时间解决，项目不断的延迟，需要再花费大量的时间去解决，相信这是每位遇到EMC问题的研发人员的深刻体会。电子产品的辐射发射与传导发射两个项目，是国家3C认证标准（GB13837-2012、GB9254-2008）强制检测的项目，而电子产品在这两个项目上花费的整改周期也很长，为此，本文根据作者在EMC实验室工作多年的工作经验，通过向设计师学习和交流，结合有关资料，总结出以下EMC整改方法与整改措施。 　　【关键词】EMC 整机的电磁兼容性 整改案例 　　1 EMC相关知识介绍 　　1.1 EMC 　　Electromagnetic compatibility，电磁兼容性（EMC=EMI+EMS），EMI （Electromagnetic Interference）：电磁干扰，主要包括辐射发射、传导发射。EMS （Electromagnetic Susceptibility）：电磁抗扰度，主要包括辐射抗扰、传导抗扰。 　　1.2 EMC定义及要素 　　EMC定义：在同一电磁环境中，设备能够不因为其他设备的干扰影响正常工作，同时也不对其他设备产生影响工作的干扰。EMC三要素如图1，缺少任何一个都构不成EMC问题。 　　2 整机测试出现的EMC超标，主要是30M-1G的辐射问题，主要采取以下方法 　　2.1 首先整机用电脑测试软件进行水平极化方向和垂直极化方向的预扫，若出现超标噪声点，初步判断辐射主要是由水平线还是有垂直线产生的 　　当接收天线为水平时噪声强度较高，可以推测此噪声来源主要是由产品内或外的水平线所造成，而当接收天线为垂直时噪声强度较高，可以推测此噪声来源主要是由产品内或外的垂直线所造成， 　　2.2 判断最大辐射位置 　　在EMC测试时，除了天线要测试水平与垂直二个极化方向外，待测物的桌子要旋转360度，记录最大的噪声读值，因此当发现噪声无法符合时，除了先判断水平和垂直噪声的差异外，便是要将待测物旋转到最大的噪声位置，由于电子产品其噪声的辐射往往会在某一个角度最大，而此时待测物面向天线的位置，往往是造成辐射的来源，通常要分析这位置附近的组件、导线及屏蔽效果，如此则较容易锁定范围，再仔细分析问题 　　2.3 判断辐射主要是由共模或差模骚扰产生的 　　对噪声频谱预扫图形进行分析，若看到整个频带的基线为一宽带的噪声，我们可以视为共模骚扰的噪声，若其上一支支单独的噪声点可以视为差骚扰模噪声。将噪声分布情形分成共模骚扰和差骚扰模的作用，主要便是要判断其分别造成的辐射来源机制，如此帮助找到问题点及对策的方法。 　　造成共模骚扰的原因主要是接地与屏蔽，也就是当发现的噪声非常高时，则要先考虑产品内的接地与屏蔽的问题。而造成差骚扰模的原因则主要是线的问题，包括电路板上的布线、产品内部的各种导线及外部的连接线，故要从连线和PCB布线来找出问题，能够从这两个方面先把问题厘清，对于深入细部的修改是很有帮助的。 　　2.4 用谐波判断噪声源 　　大部份噪声测试的频谱图，皆可以看到如下之一支支等距的噪声，这一支支等距的噪声亦即为噪声的谐波，通常可由其判断噪声的来源。 　　计算每一支等距噪声差，即为噪声的源头频率，一般为晶振，内存时钟等，由于在电路板上往往会使用数个不同频率的晶振、时钟，以致有时无法判断是那一个晶振、时钟所造成，利用这个方法有时可以很快的确定是那一个晶振、时钟造成，然后再出对策，如此可省除逐一拆除晶振、时钟判断，或者在电路板上逐一割线判断的麻烦。 　　2.5 用频谱仪对噪声点进行判断 　　除了使用谐波的观念来判断噪声的来源外，尚可将噪声点展开来判断，也就是将频谱分析仪的范围减小，然后研究造成的机制。 　　由于造成辐射噪声的成因很多，而产品也可能有多种功能组件会引起噪声干扰，通常频谱分析仪设定由30MHz测到1000MHz，如此可以很快看出有那些噪声无法符合要求，但是因为频宽设定太大，故噪声几乎都是一支一支的状态显现，无法对宽带噪声进行分析，如果我们将频谱的范围减小到100kHz，此时便可对产生噪声的波形进行具体分析，结合产品电路找到噪声源。 　　2.6 以液晶电视为例 　　在不影响电源开机的情况下可以将导线或连接线逐一取下，看频谱分析仪的噪声大小，以此确定辐射源，采取相应对策： 　　（1）对上屏线产生的辐射骚扰，改变上屏线走向，将上屏线与液晶屏金属背板用导电布连接；改变软件参数，对上屏频率展频； 　　（2）对各种连线产生的辐射骚扰，改变连线的走向