AD转换芯片测试方法及应用-Read.PDFVIP

维普资讯 第 3卷 第 2期 信 息 与 电 子 工 程 Vo1．3，NO．2 2005年 6月 INFORMATION AND ELECTRONICENGn、JEERn、JG Jun．，2005 A／D转换芯片测试方法及应用 罗业平 (中国工程物理研究院 电子工程研究所，四川I绵阳 62l900) 摘 要：介绍了模拟数字转换器静态和动态参数测试技术以及实现测试的硬件平台及软件 环境，采用斜波或纯正弦信号作为输入信号，用数字集成电路测试系统控制采样 ，并将模拟数字 转换后的数据存储，利用测试系统内的软件将存储数据进行变换，来获得模拟数字转换器的静态 参数和动态参数测试结果。该测试方法具有可编程的优点，是非常适用的测试方法。 关键词：信息处理技术；模拟数字转换器；测试方法；参数；快速傅立叶变换 中图分类号：TN911．72 文献标识码 ：A 文章编号：1672—2892(2005)02—0123—03 TestingM ethodandApplicationofA ／D Converters LU0 Ye—ping (InstituteofElectronicEngineering，CAEP，Mianyang 621900，China) Abstract：A／D converterstestingtechniqueanditsh~dwraeplatfiom na dSORwreenvironmentareintroducedin thisarticle．Adoptingslopnigwavena dsinewaveasinputsignal，usingIC testingsystem tocontrolsamplingnadstornig dataofA／D converters，then transforming storingdataby softwarein IC testingsystem， thestaticna d dynamic parameters ofADCCna beobtained．Thismethodisprogrammablena dapplicable． Keywords：informationprocessingtechnology：ADC：testingmethod：prama eters； FFT 1 引言 模拟数字转换~(AnalogtoDigitalConverter，ADC)是一种将模拟信号变成数字信号的电路。在人们所接 触和感觉的外部世界中，许多物理量都是模拟量，为了能使数字设备对它们进行处理和传输，首先要将它们转 换成 电信号，再转换成数字信号。A／D(AnalogtoDigita1)转换器 已成为模拟与数字之间的桥梁，其重要性越来 越突出，由此也推动了ADC测试技术 的发展 。 A／D转换器的主要参数如下 ： a)量化误差(quantizingerror)：由ADC的有限分辩率而引起的误差，即有限分辩率 A／D 的阶梯状转移特 性曲线与无限分辩率 A／D(理想 ADC)的转移特性 曲线(直线)之间的最大偏差，通常是 1个或半个最小数字量 (LeastSignificantBit，LSB)的模拟变化量，表示为 1LSB或 1／2LSB； b)偏移误差(offseterror)：设定输入端输入信号为零，此时输出信号不为零，该输出信号值即为偏移误差， 可外接 电位器将偏移误差调至最小： c)满刻度误差(fullscalee~or)：满度输 出时对应的输入信号与理想输入信号值之差； d)线性度 (1inearity)：实际转换器 的转移函数与理想直线的最大偏移，包括差分非线性(Difference No