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附件1：技术参数 X射线荧光光谱仪技术要求及参数 1、主机检测性能及要求 用于钢铁、铁合金、耐火材料、黏土质材料、矿石等样品的金属、非金属、氧化物的检测，可以检测样品状态为金属材料、非金属材料、块状样品、玻璃熔片样品、粉末压片样品、浇注试块、不规则样品等，必要时可检测液体样品，对其进行定量、定性及无标样分析。分析元素范围为元素周期表O8-U92之间的元素，含量范围ppb-100%。仪器应包括X光管、高压发生器、测角仪、分光系统、探测器、自动进样器、计算机控制的真空封挡装置、计算机、数据处理系统、循环冷却水系统、不间断电源系统及其他相关附件和装置。 2、仪器参数要求 2.1 仪器类型：波长色散型顺序扫描式X射线荧光光谱仪 2.2 分析元素范围：O8-U92 2.3 含量范围：ppb-100% 2.4 自动进样系统：70位以上X-Y坐标式全动定位进样器，配70个样品杯，配与样品杯规格相配套的准直器面罩或样品杯面罩。 2.5 高压发生器：最大功率≥4kW，最大电压≥60kV，在0-最大电压之间1 kV连续可调；最大电流≥120mA ，在0-最大电流之间，1mA连续可调，电流、电压的调节全部由计算机控制；外电网输入波动1%时，发生器输出稳定度：≤±0.0001% 。高压发射器类型：固态式。 2.6 X射线光管：端窗Rh靶陶瓷光管，Be窗厚度≤75μm，最大功率：≥4kW ， 样品照射方式：下照射，样品分析面朝下，可测液体（配备相应的液体样品杯等辅助配件）。 2.7 测角仪：θ/2θ分别驱动，精确光学定位，无机械磨损， 角度准确度：≤ (0.001°，角度再现精度： ≤(0.0001° 2.8 探测器：流气正比计数器（F-PC）（SC）F-PC：大于2000Kcps SC ：大于1500KcpsXS-55，PET，LiF2002.10 计算机控制系统与操作系统：配备知名品牌高性能计算机系统（包括激光打印机），满足仪器操作系统软件运行的要求。 2.11 操作系统软件要求： 定性、定量及无标样分析软件，包含以下功能：全自动安装与校准系统；光谱仪及进样器状态的实时、动态图形显示；网络及数据传输软件免费升级保证。软件的智能系统提供测量参数的最佳条件自动校正谱线重叠干扰采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应修正（变动理论Alpha系数法）；无标样分析软件2.12 质量及安全要求：符合ISO9001质量认证，CE机械安全认证，DIN 54113射线防护认证。 3、辅助配置设备及配件 3.1高压水冷却设备：与主机仪器工作相匹配，保证仪器高压发生器运行的稳定性和可靠性。 UPS电源：国产纯在线式20KVA。输入电压176~264V，输出电压220V±1%，持续电量半小时以上。 P10气体减压阀及氦气减压阀各1个，所需的气体钢瓶各1个，气体各1瓶（钢瓶为40L标准瓶）。 仪器必备的其他辅助设备。 配备国内知名品牌振动磨1台（含标配磨盘等配件），压样机1台（含标配配件）。 配备两年量的备件包1套。 二、电感耦合等离子体发射光谱仪技术要求及参数 1、主机检测性能及要求 用于钢铁、铁合金、耐火材料、黏土质材料、矿石等样品的金属、非金属、氧化物的元素检测，可对待测样品进行GB/T14849.4-2014、GB/T16477.1-2010和GB/T 24194-2009等要求。 2、仪器参数要求 2.1仪器类型：全谱直读型台式，垂直火炬双向（轴向和径向）观测型，配备外循环冷却水系统ICP-AES/OES 2.2光路系统：高性能二维(交叉)色散中阶梯光栅(或棱镜)，波长范围：167-785nm无任何波长断点。所有光学元件均密封于恒温室中分辨率光学分辨率≤0.00nm (在As 188.980nm 处实际测量半峰宽)全计算机控制，RSD≤1%（不加内标，不采用基线飘移修正） 短期稳定性：重复测定十次的RSD≤0.5%在线式计算机全自动化控制，仪器设置和参数选择可自动完成，包括气体流量、功率、点火、诊断等背景校正：单边、双边离峰法多点自动拟合法（FITTED）谱图自动解析功能：快速自动谱线拟合技术，在线校正基体谱线干扰。具有自动安全连锁系统1克样品）： 氧: 0.05ppm - 5.0%@1克试样 氮: 0.05ppm - 3.0%@1克试样 氢： 0.1ppm – 0.25%@1克试样 （可通过减少试样量扩大其分析范围） 2.4分析精度： 氧：0.025ppm)和0.3%RSD（二者满足其一） 氮：0.025ppm)和0.3%RSD（二者满足其一） 氢：0.05ppm)和2.0%RSD（二者满足其一）校正方法： 氮氧氢 标样（单点和多点）、手动、标气 炉子型式: 电极脉冲炉 额定功率 所需气体