燕山大学材料考研资料第8章_X射线的应力测定.pptVIP

第九章 X射线应力测定 9.1 内应力的产生和分类 9.2 应力测量方法 9.3 X射线单轴应力测定原理 9.4 X射线平面应力测定原理 9.5 实验测量方法 金属材料及其制品在冷、热加工（如切削、装配、冷拉、冷轧、铸造、锻造、热处理、电镀等）过程中，常常产生残余应力。 研究和测定材料中的宏观残余应力有巨大的实际意义. （1）通过应力测定检查消除应力的各种工艺的效果； （2）通过应力测定间接检查一些表面处理的效果； （3）预测零件疲劳强度的贮备等等。 研究和测定材料中的宏观残余应力在评价材料强度、控制加工工艺、检验产品质量、分析破坏事故等方面是有力的手段. 残余应力 残余应力是材料及其制品内部存在的一种内应力，是指产生应力的各种因素消除时，由于不均匀的塑性变形和不均匀的相变的影响，在物体内部依然存在并自身保持平衡的应力。 通常残余应力可分为宏观应力、微观应力和点阵畸变应力三种，分别称为第一类应力、第二类应力和第三类应力。 三种残余应力与衍射谱 当残余应力在整个工件范围或相当大的范围内达到平衡时，称宏观残余应力或第一类应力。这使θ角发生变化，从而使衍射线位移。测定衍射线位移，可求出宏观残余应力。 残余应力在一个或几个晶粒范围内平衡时，称微观应力或第二类应力。微观应力存在时，各晶粒的同一{HKL}面族的面间距将出现差别，分布在一个范围内，衍射谱线变宽。因此，根据衍射线形的变化，就能测定微观应力。 残余应力在一个晶粒内上百个或几千个原子之间达到平衡时，称点阵畸变应力或第三类应力。这导致衍射线强度降低。根据衍射线的强度下降，可以测定第三类应力。 9.2 应力测量方法 X射线应力测定的优点 1.X射线法测定表面残余应力为非破坏性试验方法。 2.塑性变形时晶面间距并不变化，也就不会使衍射线位移，因此，X射线法测定的是纯弹性应变。用其他方法测得的应变，实际上是弹性应变和塑性应变之和，两者无法分辨。 3.X射线法可以测定1~2mm以内的很小范围内的应变，而其他方法测定的应变，通常为20~30mm范围内的平均。 4.X射线法测定的是试样表层大约10μm深度内的二维应力。 5.可以测量材料中的三类应力。 X射线法的不足之处 测试设备费用昂贵； 受穿透深度所限，只能无破坏地测表面应力，若测深层应力，也需破坏试样； 当被测工件不能给出明锐的衍射线时，测量精确度不高。能给出明锐衍射峰的试样，其测量误差约为±2×107Pa(±2kgf/mm2)； 试样晶粒尺寸太大或太小时，测量精度不高； 大型零件不能测试； 运动状态中的瞬时应力测试也有困难。 9.3.0 X射线应力测定原理 在诸多测定残余应力的方法中，除超声波法外，其他方法的共同点都是测定应力作用下产生的应变，再按虎克定律 计算应力。X射线残余应力测定方法也是一种间接方法，它是根据衍射线条的θ角变化，即根据衍射方向上某个晶面的衍射线位移量??，计算出面间距变化，进而计算出该方向上的应力。 9.3 单轴应力测定原理 在拉应力σy当作用下，试样沿y轴产生变形。假设晶粒中某一晶面（hkl）与y轴垂直，无应力条件下晶面间距为d0。在应力作用下变为dn， 单轴应力测定原理 但是，从试验技术讲，尚无法测得这个方位上的晶面间距变化。由材料力学可知，从z方向和x方向的变化可以间接推算y方向的应变。对于均匀物质有: ν为材料的泊松比。对于多晶体试样，总有若干个晶粒中的(hkl)晶面与表面平行，晶面法线为Np，在应力σy作用下，这一晶面间距的变化（缩小）是可测的，如晶面间距在应力作用下变为dn，则z方向反射面的晶面间距变化Δd=dn-d0，则 单轴应力测定原理 于是有σy。 Z方向的晶面间距的变化可通过测量衍射线条位移Δθ获得。 9.4 平面应力测定原理 一般情况下，材料的应力状态并非是单轴应力那么简单，在其内部单元体通常处于三轴应力状态。但其表面由于垂直于表面方向的应力为零，所以表面为平面应力。 由于X射线只能照射深度10-30μm左右的表层，所以X射线法测定的正是表面（二维的）平面应力。 实验操作 平面应力测定原理 实际操作 9.5 测量实验方法 选定一个衍射面(HKL)作为研究对象。 衍射仪法测定残余应力的几何关系 X射线应力仪 X射线应力仪的结构示意图，其核心部份为测角仪。 应力仪的测角仪为立式，测角仪上装有可绕试件转动的X射线管和计数管（即辐射探测器）。 通过ψ0调节使X射线管转动，以改变入射线的方向。从X射线管1发出的X射线，经入射光阑2照到位于试样台3的试件4上，衍射线则通过接收光阑5进入计数管6。计数管在测角仪圆上的扫描速度可以选择,扫描范围为110~170°。 X射线应力测定的注意事项 衍射面的选择：