超大规模集成电路测试课程作业.docVIP

《超大规模集成电路测试》课程作业 作业要求： 上课做过报告的同学不再安排作业任务。未做报告的同学每人一题，组内不能重复（比如黄希雷选择习题4，张一栋选择习题5，杨鑫选择习题6）。提交打印版，截止时间：2012.12.13。 分组 分组 作业 成员 第1黄希、张一栋、杨鑫 第2陶志勇第3何敏、余成林 第4韩健、邢、彭小飞 第5方文庆、吴悠然、李军 第6张丽娜、申思远、胡静云 第7刘坤、韩博宇、李润丰 第8陈义军、王悄、韩倩倩 第9王镜淞、谢云磊、余天送 第10杨国兵、钱庆庆、郑浏旸 第11张曦、张桂茂 第13组 习题5-8 饶东升、赵炎鑫、吴亦、刘方方 第14组 习题9-11 吴思谕、张启凤、余海东 第15组 习题12-15 孙越、江明、李沛骋、陶星辰 《超大规模集成电路测试》课程习题 对于图1的电路，计算组合SCOAP可测试性度量（可控制性和可观测性） 图1 对于图2的电路，计算组合SCOAP可测试性度量（可控制性和可观测性） 图2 对于图3的电路，计算组合SCOAP可测试性度量（可控制性和可观测性） 图3 采用Roth的D_ALG，对修改的Schneider电路中扇出分支h s-a-1故障进行ATPG，如图4所示。 图4 对于图5电路中的h1 s-a-1故障，采用D算法进行ATPG。 图5 对于图6中的r s-a-0故障，采用FAN ATPG算法生成测试矢量。 图6 对于图7中的NOT门输出的s-a-1故障导出一个测试码。 图7 对于图8中的NAND门的C输入上的s-a-1故障的测试码，并说明这是一个振荡故障。将无故障的功能重新设计成组合电路。 图8 导出图9电路中A s-a-1故障的一个测试码，并对该故障设计一个多重观察测试。 图9 考虑图10电路中的路径C-F-G：1）导出C处上升转变的测试矢量；2）如果在B出施加下降转变，上述测试矢量可以工作吗？3）当所有门具有一个延迟单元时，画出2）情况的所有信号波形。4）如何诊断有故障路径。 图10 假定芯片有100 000个门和2000个触发器。一个组合ATPG程序为完全测试这个逻辑生成了500个矢量。单个扫描链设计将需要大约106个时钟周期进行测试。如果实现20条扫描链，计算扫描测试的长度。假定电路有20个原始输入数据管脚和20个原始输出数据管脚，而且对测试只能增加一个额外的管脚，对新设计需要多少额外的门开销？ 计算有特征多项式为的标准LFSR生成的前8个测试矢量，其初始值是，其中1在最低位。 计算有特征多项式为的取模LFSR生成的前8个测试矢量，假定该LFSR初始化为“001”，其中1在最低位。 图16.8（此图在教材中）中的印刷电路板有4个芯片，期特性如下： 不适用JTAG BYPASS指令，使用外部测试仪通过边界扫描链施加测试矢量，只测试芯片1-4（不包含互连），计算一次测试中4个测试阶段的测试时间，其中电路板上时钟速率是512MHz。再重新计算使用JTAG BYPASS指令测试芯片1-4的测试时间。 使用与习题14同样的系统，现在要求计算实现互连延迟故障测试的测试模式和测试时间。对每个被测试的互连，对上升变化，这需要有两个测试矢量的一个测试码，对下降变化延迟测试需要另一个。描述测试互连所需要的JTAG指令序列，并计算在100MHz时钟频率下的测试时间。