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ICP技术培训 ICP的基本原理 IRIS Intrepid光谱仪的构造 IRIS Intrepid的操作及日常维护 ICP常见故障的诊断及排除 如何在检测工作中发挥ICP的特点与优势 ICP的基本原理 原子发射光谱的基本原理 ICP的产生机理与装置 ICP的进样系统 样品在ICP中的微观过程 中阶梯光栅光学系统 CID检测器的工作原理 原子发射光谱的基本原理 原子结构与原子光谱 原子光谱的发现与应用 ICP的产生机理与装置 ICP的产生机理与装置 工作线圈 炬管 点火装置 ICP形成过程 ICP的产生机理与装置 ICP的参数分布 温度 电子 垂直观察 水平观测 灵敏度高，检出限低 （基体简单的条件下） 双向观察光路图 ICP的进样系统 喷雾器 雾室 蠕动泵 ICP的进样系统—喷雾器 同心型 ICP的进样系统—喷雾器 交叉型 ICP的进样系统—喷雾器 超声雾化器 ICP的进样系统—雾室 筒型 梨型 旋流型 ICP的进样系统—其他技术 蠕动泵 气体发生法及其装置 膜去溶技术及装置 样品在ICP中的微观过程 去溶 气化 解离 电离 激发 中阶梯光栅光学系统 The Echelle Spectrometer CID检测器的工作原理 CID检测器的工作原理 IRIS Intrepid光谱仪的构造 控制系统 电源 RF系统 光学系统 检测系统 辅助装置 控制系统 计算机与软件 386板 信号板 PSCB板 电源 交流220V/110V/24V/5V 直流3800V/48V/15V/-15V/12V/5V RF系统 RF Source RF Driver Power AMP Box RF Control System 光学系统,检测系统 光源 外光路 内光路(单色器) 检测器 The IRIS/Intrepid Optics The IRIS/Intrepid Optics IRIS/Intrepid CID Camera 辅助系统 光室恒温装置 循环水系统 半导体制冷系统 气路 IRIS Intrepid的操作及日常维护 仪器的准备 分析方法的建立 数据的采集处理 软件系统的维护 硬件的日常保养 仪器的准备 光学系统的恒温 检测器的冷却 ICP的产生与稳定 光学系统的准直(谱线定位) 仪器的准备-光室恒温 恒温要求:90+/-0.5F 仪器的准备-CID冷却 冷却要求 CID温度-40度 FPA温度5度 IRIS/Intrepid CID Camera 仪器的准备-点火及稳定 点火的注意事项 Ar 进样系统 废液 泵夹 抽风 稳定时间:15-45min 仪器的准备—谱线定位 波长校准 谱线描迹 Routine Analysis - The Subarray 建立分析方法 选择分析的元素与谱线 设置仪器的状态参数 Plasma参数 测量参数 定置工作曲线 设置数据的处理方式,输出格式 建立分析方法—谱线选择 强度适宜 干扰少 波长差 强度比 建立分析方法—仪器参数 SOURCE SETTING POWER NEB AUX GAS PUMP SPEED 建立分析方法—仪器参数 分析参数 积分时间 观察方式 建立分析方法—仪器参数 工作曲线 浓度含量 拟合方式 建立分析方法—仪器参数 数据处理—Subarray 背景校正 IECs校正 输出格式 Routine Analysis - The Subarray 数据的采集与处理 采集并计算工作曲线 测量未知样品 数据后处理 定性及半定量分析 仪器的日常维护 软件系统的维护 --分析方法的保存与备份 --重要数据的保存与备份 --软件系统的加密 仪器的日常维护—硬件维护 进样系统维护 光路的维护 检测器维护(吹扫气干燥) 循环水的更换 电源维护 RF匹配箱维护 风扇,散热片与过滤网 进样系统维护 蠕动泵压板的优化 泵管更换 雾化器堵塞的处理，（Neb气过滤器的更换） 雾化室的清洗--- 1%(V/V)HF酸，1?2分钟（不能马上分析微量Si、B、Na）。 中心管和炬管的清洗 所有连接处、O型圈的密封 废液管的处理 …... 仪器的日常维护—硬件维护 光路的维护 狭缝 透镜 后反光镜 仪器的日常维护—硬件维护 检测器维护(吹扫气干燥) 定期检查定期更换 循环水的更换 定期更换 仪器常见故障的排除 控制与通讯问题 点火问题 数据检测问题 其他问题 仪器常见故障的排除—控制通讯问题 自检不正常 不通讯 INTERLOCK工作异常 仪器常见故障的排除—点火问题 不能正常点火 非正常熄火 仪器常见故障的排除—点火问题 点火的三个条件: RF系统输出合适的能量 好的炬管