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对原子力显微镜afm的进一步探索
陈智健 0519022 1981年，Binnig和Rohrer等利用隧道效应研制出第一台扫描隧道显微镜（STM） 1986年，Binnig通过改进STM研制出第一台原子力显微镜（AFM） 显微镜是人们研究物质结构的有力工具，把人类的视野从宏观引入到微观。 非接触模式 分辨率受到很大限制 接触模式 切向力引起样品表面发生变形，甚至导致样品表面 发生不可恢复的形变 轻敲模式（推荐） 施加一频率接近其共振频率的激励，通过振幅或相位信号的变化来测得样品表面的形貌特征 探针易坏且昂贵，避免人为因素造成的损坏 使用较为便宜的有凹槽的探针；利用电化学腐蚀法自己制备探针，以降低实验成本 不能盲目迷信电脑的进针过程，肉眼确定与软件控制相结合，多次进针 S-P=10.025nN S-P=20.017nN S-P=30.010nN P-GAIN=9, I-GAIN=9 P-GAIN=12, I-GAIN=12 P-GAIN=11, I-GAIN=11 优点：分辨率高；成像时间短；可对样品表面进行操作 直接的例子：检查光盘的光洁情况 AFM已经在很多科学领域得到了成功的应用，容易获得形貌特征信息和纳米尺度上的粗糙度等 AFM的应用已经不局限在材料科学领域，越来越多的被应用于科学研究、纳米技术、微电子技术等领域
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