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智能工业特刊 主流DS P 存储器测试方法 本文选自电子发烧友网5 月 《智能工业特刊》特别聚焦栏目，转载请注明出处 存储器相关的问题是 DSP 应用中非常普遍的问题。本文介绍 KeyStone I 系列DSP 上一些存储器测试的方法。 KeyStone DSP 存储器系统简介 KeyStone DSP 存储器架构如图1 所示。 对不同的 DSP，存储器的大小可能不同，DSP 核和 EDMA 传输 控制器的个数也可能不同。表1 比较了KeyStone I 系列中常用的3 颗 智能工业特刊 DSP。 表1 KeyStone I 存储器系统比较 本文介绍几种存储器测试算法，并讨论这几种算法的用途。 数据测试 下面是数据测试的伪代码： for(memory range under test) fill the memory with a value; for(memory range under test) read back the memory and compare the readback value to the written value 通常，这个测试会被执行几次，每次填充的值不一样。常用的填 充值包括 0 0xAAAAAAAA, 0 0xCCCCCCCC, 0x0F0F0F0F , 0xF0F0F0F0, 0x00FF00FF , 0xFF00FF00FF00, 0xFFFFFFF F , 0。 这个测试可以用来检测数据比特粘连(bit -stuck) 问题，例如，如 果， 智能工业特刊 written value = 0, readback value = 0x8, 表示bit 3 粘连到1. 如果 written value = 0xFFFFFFFF , readback value = 0xFFFFFFFE, 表示bit 0 粘连到0. 如果能正确的写入并读出0 （或0xAAAAAAAA ），说明 相邻的两个比特没有粘连；如果能正 确写入并读出0 （或0xCCCCCCCC），说明相邻的4 个 比特没有粘连；如果能正确写入并读出 0x0F0F0F0F （或0xF0F0F0F0 ），说明相邻的8 个比特没有粘连„ 这个算法既可以用来测试数据总线连接，也可以用于测试存储器 单元。当用于测试存储器单元时则每一 个存储单元都需要写读所有的值，这将是比较耗时的测试；而用 于测试数据总线连接时，只需要把所有的值都 写读一遍就可以了（地址不限）。 地址测试 地址测试的伪代码如下: for(memory range under test) fill each memory unit with its address value; for(memory range under test) read back the memory and compare the readback value to the written value 智能工业特刊 这个测试可以用来检测地址比特粘连(bit -stuck) 问题。例如，如 果 written value = 0 at address 0 written value =