TRI518测试原理.ppt

TR-518测试原理 德律泰電子(苏州)有限公司 OPEN/SHORT測試原理 示意图 開/短路學習 凡兩兩之間電阻 ≦ 25Ω的針號歸入一個SHORT GROUP, 反之亦然. OPEN 25 Ω SHORT l??????? 開路測試( 在SHORT GROUP內的点与点之间進行 ) OPEN FAIL 55 Ω OPEN PASS open/short测试原理 基本測試原理: 1開路及短路(Open/Short)的量測原理 ICT提供一個直流電流源到兩個量測點，以確認兩個量測點之間的阻抗值。电脑會把兩測試針點之間的阻抗值分為四組: 阻抗值X≦5Ω5Ω＜X≦25Ω25Ω＜X≦55ΩX＞55Ω機器辨視值0、1、2、3螢幕顯示值1、1、3、4在開路/短路學習時，會將測試針點之間阻抗小於25Ω的點自動聚集成不同的短路群(Short Groups)。需要學習的時間隨著量測點數的增加而增加。自我學習時必須確定電路板是良好的，否則學習到的資料可能是錯誤的。 TR-518FE可以在測試參數做開/短路區間設定1. <5,25,55> 2.<15,55,85> 3.<5,20,80>選擇開/短路區間。 開路測試(Open Test)時，在任一短路群(Short Group)中任何兩點之阻抗不得大於55Ω，否則即是開路測試不良(Open Fail)。 短路測試(Short Test)時分成三種情況，若有以下其中之一的情況發生，則判定短路測試不良(Short Fail)： 1、在短路群中任何一點與非短路群中任一點之阻抗小於5Ω。 2、不同短路群中任兩點之阻抗小於5Ω。 3、非短路群中任兩點之阻抗小於5Ω GUARDING原理 GUARDING测试图 电阻测试 一、固定電流源(Constant Current) 對於不同的電阻值，ICT本身會自動限制一個適當的固定電流源做為測試的訊號源使用，如此才不會因使用者的選擇不當，因而產生過高的電壓而燒壞被測試元件，故其測試方式為：提供一個適當的固定電流源I，流經被測電阻R，再於被測電阻R兩端，測量出Vr，由於Vr及I已知，利用Vr=IR公式，即可得知被測電阻R 電阻測試 系统依标准值（STD_V）选取相应大小的电流源。被測電阻愈大, 測試電流須更小, 以確保量回被測電阻兩端的電壓VO在規定的範圍(0.15~1.5V)之內. 低固定電流源(Low Constant Current)模式(Mode1) 該測試方法和上述固定電流源模式一樣，只是在被測電阻於電路上若有並聯(Parallel)著二極體(Diode)或是IC保護二極體(IC Clamping Diode)時，對於該電阻兩端測量電壓值若超過0.5V至0.7V左右時，因為二極體導電的關係，該電阻兩端電壓將被維持在0.5V至0.7V左右，固無法量測出真正的Vr值，為解決此問題，只要將原先的電流源降低一級即可 快速(High-Speed)測試模式(Mode2) 假如被測電阻並聯一顆0.3μF以上的電容時，若使用上述固定電流源測試時，需要花費很長的時間，讓電容充飽電荷，再去測量出Vr值，而得知R值，如此測試方法將增加ICT測試時間，為解決此問題，可以將固定DC電流源改為0.2V DC固定電壓源，直接接於被測電阻兩端，如此電容將會在短暫時間內使其Ic=0，故電路上所有電流將流經電阻R。其測量方式為：提供一個0.2V DC電壓源，當Ic=0時，再測試流經電阻端的Ir，因為V=IrR，而V及Ir已知，即可得知電阻R值 交流相位(AC phase)測試模式(Mode3、Mode4、Mode5 ) 由於電路設計關係，被測試電阻，將會並聯著電感等元件，對於此電阻值測量，若使用固定電流源方式測試，電阻值將會偏低而無法測量出真正的電阻值，故使用AC電壓源，利用相位角度的領先，及落後方式而得知被測電阻值。故其測試方式為：提供一個適當頻率的AC電壓源V，同時在被測電阻兩端測量出Iz，由於V=Iz*Zr1，因為V及Iz已知，故可得知Zr1，又因為R=Zr1*cosθ，而Zr1及cosθ已知，故即可得知被測電阻R值 電容測試原理 1、固定AC電壓源測試模式(Mode0、Mode1、Mode2、Mode3) 對於不同阻抗的電容，ICT本身會自動選擇一個適當頻率(frequency)的AC電壓源，作為測試使用，其頻率計有：1KHZ，10KHZ，100KHZ，1MHZ，對於極小阻抗值的電容將需要較高頻率的AC電壓源，再測量被測元件兩端的電壓源，由於V=Ic*Zc，而V及Ic已知，故得知Zc=1/2π*f*c，又因f已知，故即可得知電容C 2、向位(AC PHASE)測量模式(Mode5、Mode6、Mode7 )