[标准] IEC 68-2-64 试验方法 Fh：宽频随机振动(数位控制)和指引 [复制链接]档.docVIP

範圍 本試驗法適用於運輸或使用過程中遭遇隨機振動之元件、裝備或產品。本試驗法主要針對無包裝之試件及含運輸箱之試件，如為後者，則運輸箱可視為試件本體之一部份。本試驗共有兩種方法，分述如下： 試驗方法Ι通常僅用於驗證試件在隨機振動環境之存活能力；如在相關規範中另有規定，可於振動試驗之前或後，以正弦或隨機方式激振，進行振動響應調查。 試驗方法Ⅱ通常僅用於調查試件之振動響應；可在隨機振動驗證之前(或後，如相關規範要求)，以正弦或隨機方式激振，求得試件在最窄-3dB共振頻寬時之共振頻率。 限制 本試驗法不適用於運輸或使用過程遭遇簡諧(harmonic)振動之元件、裝備或產品。 測試步驟 試驗前試件應依相關規範之規定執行目視檢查、電性及機械檢驗。 按規格依序在三相互垂直軸向執行試驗(軸向另有規定者除外)，且其嚴厲度應在相關規範中明定。其程序如下： 　 初始振動響應調查： 以低位準激振方式進行等化(equalization)程序： 依相關規範規定之試驗規格進行試驗，主要參數如下： 試驗頻率範圍。 ASD(acceleration spectral density)位準。隨機振動之頻譜形狀。試驗時間。 在隨機振動試驗中，依相關規範規定對試件進行功能檢驗。 如相關規範有要求，可進行最終振動響應調查。若所求得之共振頻率與初始振動響應調查結果不同，則可能是因試件特性改變或發生失效所致。 俟試件回復至原來狀況後，應執行目視檢查、電性及機械檢驗。 測試條件 試件固定方式 除相關規範另有規定外，試件固定應遵循IEC 68-2-47之規定。 振動嚴厲度 振動嚴厲度係由頻率範圍、ASD位準、頻譜形狀及試驗時間表示。決定上述參數的方式為：參照5.(2)b.～5.(2)e.之建議值。由試件之已知環境推導而得者。由類似產品之環境規格推導而得者。 頻譜形狀 試驗頻譜可依照圖1之形狀決定；亦可由相關規範制訂ASD位準與頻率對應之頻譜曲線，但頻率與位準值儘可能選用第5.(2)節與第5.(3)節之建議值。 試驗時間(每一振動軸向，容差0～+5 %)： 1分鐘， 3分鐘，10分鐘，30分鐘，100分鐘，300分鐘 振動時之運動需求 在試件夾持點的運動大體上應符合規範之規定，且其瞬間加速度須呈直線性(rectilinear)、隨機及常態(normal)分布。在試件參考點的瞬間加速度值應為常態分布，其容差要求如圖2所示。若為虛擬參考點，則應將上述容差要求之對象改為所有用以控制ASD頻譜之檢查點。應在相關規範中明訂驅動訊號之波高率(crest factor)及其截斷位準(clipping level)，但不可低於2.5，亦即訊號峰值至少為均方根值之2.5倍。檢查點之側向振動位準不可超過振動軸向ASD位準5dB，也不可超過軸向振動均方根值的50%。對於較小試件可將限制加嚴，例如，將上述5dB限制降為3dB。對於大型或較重試件，可能無法滿足上述限制，因此，須在相關規範中規定： 試驗容差與頻譜形狀要求 控制系統或其輸入設備中的類比組件會造成儀器誤差，因此在振動規格之頻率範圍內(f1～f2)，檢查點與參考點於振動軸向測得之 ASD位準可有±3dB之容差，但隨機與偏移誤差並不包括在內。使用試驗方法Ⅱ時，應在相關規範明訂允許之最高偏移誤差。中国可靠性网：?在頻率範圍f1～f2 內所測得或算出之加速度均方根值，應在規格之±10%容差內，此一要求對單點或多點控制均適用。上述之ASD位準與均方根植限制在大型或較重試件時可能無法滿足，因此可在相關規範中應訂較寬之容差。 振動頻譜之初始斜率≧6dB，末端斜率≦-24dB(如圖1)。 頻率解析度 應儘量提高控制或分析系統之頻率解析度，以降低ASD位準測示值和真值之誤差，可依試驗方法選用頻率解析度如下： 試驗方法Ι：如表3所示。 試驗方法Ⅱ 頻率解析度(Be)須由頻率響應調查所求得之 -3dB 共振頻寬?Br 推導而得，公式如下：Be?= a Br ，其中?a?值小於 1選用係數?a?時須考慮偏移誤差?Eb，如表4所示。 統計精確度 隨機振動試驗之統計精確度係以其統計自由度(?Nd)決定，通常?Nd應高於120，其公式如下：Nd = 2?Be?Ta其中，?Be 為頻率解析度，?Ta為有效平均時間。 在不同信賴度下，精確度與自由度之關係為卡方(Chi- square)分布。 試驗設置 試件應以正常安裝姿態固定於試驗平台上執行試驗，有關試件固定需求詳見IEC 68-2-47之規定。夾持點、檢查點皆應遵照相關規範之規定。數位控制之隨機振動系統(包含數位控制系統、功率放大器、夾具及振動機等)。 正弦振動之控制系統(若相關規範中要求以正弦振動調查試件響應)。 其他 夾持點、檢查點、參考點、虛擬點及響應點 夾持點為試件與夾具或振動台