高频LC三点式晶体及压控振荡振荡器.pptVIP

* LC三点式、晶体与VCO 振荡器实验 (3) 1．掌握三端式振荡电路的基本原理，振荡电路设计及电路参数计算。 2．通过实验掌握晶体管静态工作点、反馈系数大小、负载变化对起振和振荡幅度的影响。 3．研究外界条件（温度、电源电压、负载变化）对振荡器频率稳定度的影响。 4．比较LC振荡器和晶体振荡器的频率稳定度。 5. 掌握压控振荡器的基本工作原理。 在实验过程中，通过调测振荡电路，掌握LC三点式、晶体振荡与压控振荡器电路的各项技术指标的测试技能。 一、实 验 目 的 二、实 验 内 容 1、三端式与晶体高频振荡器电路结构与特点的研究。 2、电容三点式LC振荡器静态工作点的调整与测量。 3、测定三端式与晶体振荡器的振荡频率与振荡幅度. 4、研究反馈系数不同时,起振点、振幅与工作电流的关系. 5、研究负载电阻不同时,振荡器振幅与频率的关系。 6、压控振荡器的压控特性测量。 实验电路采用的是串联（克拉伯）/并联（西勒）改进三点电容反馈与晶体振荡电路，当拨码开关SW3拨置“左”“中”或“右”端时，可分别构成串联/并联改进三点电容反馈与并联型石英晶体振荡器。为了尽可能地减小负载对振荡电路的影响，采用了射随器作为隔离级，其电路的电原理图如图所示。图中，拨码开关SW1为验证反馈系数，SW3为LC震荡器与晶体振荡器转换选择，SW2为验证负载（即回路Q值）变化对振荡器的影响，跳线开关K为振荡器输出信号经由或不经由射随器隔离输出转换。 三、实验电路与说明 实验内容一：振荡电路静态工作点的调整 实验准备 SW2“1”，RL=10K SW3“1”（LC克拉伯振荡） 实 验 数 据 记 录 。 调整RW电位器，使IC=1.5mA（Ve=4.95V) Ic计算值 Vce Ve Vb BG1 Re=3.3K 调整时采用间接测量法：即用直流电压表测量晶体管发射极对地电压，并将测量结果记录于表中。 四、实验内容与操作步骤 SW1全开路（停振） 实验内容二：振荡器输出信号频率与幅度的调测 实验准备 SW1“1”（C2=470pf） SW2“全开”（RL=∞） SW3“1”（LC克拉伯振荡） 实 验 数 据 记 录 ① 用示波器测量振荡器的输出端“OUT1”，观察Vo波形，若无振荡输出，则需检查电路，调整元件，直至电路振荡。分别记录此时振荡器发射极输出（OUT1）与集电极输出（OUT）点的信号波形、频率和幅度。并说明不同点输出信号的差异。 ② 适当调整RW使（OUT）点输出Vo最大且出现不失真的正弦波。记录此时最佳状态下的Vo波形和幅度，振荡fo与集电极电流IC。 ③ 保持以上基本设置不变，将拨码开关SW3 “2”拨通，使之为LC西勒振荡器。记录此时最佳状态下的Vo波形和幅度，振荡fo与集电极电流IC ④ 将拨码开关SW3 “3”拨通，“1与2”断开。使之为晶体振荡器。记录此时最佳状态下的Vo波形和幅度，振荡fo与集电极电流IC 实验内容三：研究工作点Ic的变化对振荡器性能的影响 振荡器基本设置条件：（LC西勒振荡、C2=510p、RL=∞） 按表所列数据要求，改变Ico，将测试结果记录于表中。记录本实验电路停振时的最大Ico=？ mA 结论： 最大Ic： 7 2.2 6.6 2 5.5 1.6 5 1.5 4.5V 1.3 波形 振幅（V） f(MHZ) 波形 振幅（V） f(MHz) VEQ (V) Ic (mA) 晶体振荡器 LC（西勒）振荡器 注：调整一项数据后，将SW3拨码开关切换至“3”，记录晶体振荡器的数据 实验内容四：研究反馈系数F的变化对振荡器性能的影响； 实验准备 SW3“1与2”（LC西勒振荡） SW2“全开”（RL=∞）并调整Rw,使Ic=最佳数值。 按表所列数据要求，改变SW1开关位置，转换C2将测试结果记录于表中。 注：调整一项数据后，切换SW3 拨码开关，记录晶体振荡器的数据 信号波形 振荡频率 振荡幅度 晶体振荡器 信号波形 振荡频率 振荡幅度 反馈系数 5200 681pf 510pf 470pf 反馈电容 LC振荡器 实验内容五：研究负载RL变化对振荡器性能的影响 实验准备 SW3“1与2”（LC西勒振荡） SW1“2”（C2=510Pf）并调整Rw,使Ic=最佳数值 按表所列数据，调节SW2，分别改变负载电阻。将测试结果记录于表中。 Sw2“4” 470Ω SW2“2”2KΩ Sw2“1” 10kΩ Sw2“全开