微电子器件基础题.docVIP

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微电子器件基础题

“微电子器件”课程复习题 一、填空题 1、若某突变PN结的P型区的掺杂浓度为,则室温下该区的平衡多子浓度pp0与平衡少子浓度np0分别为( )和( )。 2、在PN结的空间电荷区中,P区一侧带(负)电荷,N区一侧带(正)电荷。内建电场的方向是从(N)区指向(P)区。 3、当采用耗尽近似时,N型耗尽区中的泊松方程为( )。由此方程可以看出,掺杂浓度越高,则内建电场的斜率越( )。 4、PN结的掺杂浓度越高,则势垒区的长度就越(短),内建电场的最大值就越(大),内建电势Vbi就越(大),反向饱和电流I0就越(小),势垒电容CT就越( ),雪崩击穿电压就越(低)。 5、硅突变结内建电势Vbi可表为( ),在室温下的典型值为(0.8)伏特。 6、当对PN结外加正向电压时,其势垒区宽度会(减小),势垒区的势垒高度会(降低)。 7、当对PN结外加反向电压时,其势垒区宽度会(变宽),势垒区的势垒高度会(增高)。 8、在P型中性区与耗尽区的边界上,少子浓度np与外加电压V之间的关系可表示为( )。若P型区的掺杂浓度,外加电压V = 0.52V,则P型区与耗尽区边界上的少子浓度np为( )。 9、当对PN结外加正向电压时,中性区与耗尽区边界上的少子浓度比该处的平衡少子浓度(高);当对PN结外加反向电压时,中性区与耗尽区边界上的少子浓度比该处的平衡少子浓度(低)。 10、PN结的正向电流由(空穴扩散Jdp)电流、(电子扩散电流Jdn)电流和(势垒区复合电流Jr)电流三部分所组成。 11、PN结的正向电流很大,是因为正向电流的电荷来源是(多子);PN结的反向电流很小,是因为反向电流的电荷来源是(少子)。 12、当对PN结外加正向电压时,由N区注入P区的非平衡电子一边向前扩散,一边(复合)。每经过一个扩散长度的距离,非平衡电子浓度降到原来的( )。 13、PN结扩散电流的表达式为( )。这个表达式在正向电压下可简化为( ),在反向电压下可简化为( )。 14、在PN结的正向电流中,当电压较低时,以(复合)电流为主;当电压较高时,以(扩散)电流为主。 15、薄基区二极管是指PN结的某一个或两个中性区的长度小于(少子扩散长度)。在薄基区二极管中,少子浓度的分布近似为(线性)。 16、小注入条件是指注入某区边界附近的(非平衡少子)浓度远小于该区的(平衡多子)浓度,因此该区总的多子浓度中的(非平衡)多子浓度可以忽略。 17、大注入条件是指注入某区边界附近的(非平衡少子)浓度远大于该区的(平衡多子)浓度,因此该区总的多子浓度中的(平衡)多子浓度可以忽略。 18、势垒电容反映的是PN结的(中性区中的非平衡载流子)电荷随外加电压的变化率。PN结的掺杂浓度越高,则势垒电容就越(高);外加反向电压越高,则势垒电容就越(低)。 19、扩散电容反映的是PN结的(势垒区边缘的电离杂质)电荷随外加电压的变化率。正向电流越大,则扩散电容就越(大);少子寿命越长,则扩散电容就越(大)。 20、在PN结开关管中,在外加电压从正向变为反向后的一段时间内,会出现一个较大的反向电流。引起这个电流的原因是存储在(N)区中的(非平衡少子)电荷。这个电荷的消失途径有两条,即(反向电流的抽取)和(自身的复合)。 21、从器件本身的角度,提高开关管的开关速度的主要措施是()和( )。 22、PN结的击穿有三种机理,它们分别是( )、( )和( )。 23、PN结的掺杂浓度越高,雪崩击穿电压就越( );结深越浅,雪崩击穿电压就越( )。 24、雪崩击穿和齐纳击穿的条件分别是( )和( )。 25、晶体管的基区输运系数是指(基区中到达集电结的少子)电流与(从发射结刚注入基区的少子)电流之比。由于少子在渡越基区的过程中会发生(复合),从而使基区输运系数(小于1)。为了提高基区输运系数,应当使基区宽度(减小)基区少子扩散长度。 26、晶体管中的少子在渡越(基区)的过程中会发生(复合),从而使到达集电结的少子比从发射结注入基区的少子(少)。 27、晶体管的注入效率是指(在发射结正偏,集电结零偏的条件下从发射区注入基区的少子)电流与(总的发射极电流)电流之比。为了提高注入效率,应当使(发射)区掺杂浓度远大于(基)区掺杂浓度。 28、晶体管的共基极直流短路电流放大系数是指发射结(正)偏、集电结(零)偏时的(集电极)电流与(发射极)电流之比。 29、晶体管的共发射极直流短路电流放大系数是指(发射结)结正偏

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