MSP300显微分光光度计及薄膜厚度测量系统.PDF

    北京燕京电子有限公司    MSP300 显微分光光度计及薄膜厚度测量系统                   地址：北京市朝阳区酒仙桥东路 9 号 A2 西七层 电话：01059/60；传真：010邮箱：sales@        北京燕京电子有限公司      介绍： 显微分光光度计(Micro-Photometry 、Micro Spectrophotometry)是用来描述薄 膜、涂层厚度超过1微米的物件的光学性能的。显微分光光度计同样也被称作为： microreflectometer 、micro-reflectometer 、microspectrometer 、 microphotometer(Spectroscopic) 、microspectroscopic photometer 等等。依靠着 Angstrom公司独特的专业设计，MSP系列产品有着在线的实时数字成像系统，以 及强大的数字编辑能力、拥有者反射率、透射率及吸收光谱等测量工具。可以在 毫秒的时间内就完成数据采集。在进行诸如反射、透射、涂层厚度、折射率(光 学常数)等光学性能改变的运动学研究方面，TFProbe软件允许用户设立加热阶 段或冷却阶段。在各种MSP型号的可移动X-Y平台或ρ-θ平台中都可以用到自 动成像功能，在使用螺杆的电动调焦功能上也同样的能使用此功能。仪器所能测 量的波长范围通常是用户考虑的最重要的一个参数，Angstrom公司的MSP产品， 其测量波长覆盖了从深紫外光(DUV)到近红外光的范围。这个波长范围应当诸如 薄膜或涂层的厚度、反射或透射的典型波长范围等因素决定。 特点： • 基于视窗结构的软件，很容易操作； • 先进的深紫外光学及坚固耐用的抗震设计，以确保系统能发挥出最佳的性能 及最长的正常运行时间； • 基于阵列设计的探测器系统，以确保快速测量； • 低价格，便携式及灵巧的操作台面设计； • 在很小的尺寸范围内，最多可测量多达 5 层的薄膜厚度及折射率； • 在毫秒的时间内，可以获得反射率、传输率和吸收光谱等一些参数 • 能够用于实时或在线的监控光谱、厚度及折射率等参数； • 系统配备大量的光学常数数据及数据库 • 对于每个被测薄膜样品，用户可以利用先进的软件功能选择使用NK数据库、 也可以进行色散或者复合模型（EMA）测量分析； • 系统集合了可视化、光谱测量、仿真、薄膜厚度测量等功能于一体； • 能够应用于不同类型、不同厚度(最厚可测200mm)的基片测量； 地址：北京市朝阳区酒仙桥东路 9 号 A2 西七层 电话：01059/60；传真：010邮箱：sales@        北京燕京电子有限公司    • 2D 和 3D 的图形输出和友好的用户数据管理界面。 • 先进的成像软件可用于诸如角度、距离、面积、粒子计数等尺寸测量； • 各种不同的选配件可满足客户各种特殊的应用  系统配置： • 型号：MSP300R • 探测器：2048像素的CCD阵列 • 光源：直流稳压卤素灯 • 自动的台架平台：特殊处理的铝合金操作平台，手动调节移动范围为75mm ×55mm • 物镜有着长焦点距离:4×、10×、50× • 通讯接口：USB的通讯接口与计算机相连 • 测量类型：反射/透射光谱、薄膜厚度/反射光谱和特性尺寸 • 计算机硬件：英特儿酷睿2双核处理器，200G硬