电感耦合等离子体质谱仪使用标准模式分析SiO纳米颗粒-珀金埃尔默.PDFVIP

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2018-08-17 发布于天津
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电感耦合等离子体质谱仪使用标准模式分析SiO纳米颗粒-珀金埃尔默.PDF

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电感耦合等离子体质谱仪使用标准模式分析SiO纳米颗粒-珀金埃尔默

应用文章 ICP - M ass Spectrometry 作者： Kenneth Neubauer Chady Stephan Kyoko Kobayashi PerkinElmer, Inc. Shelton, CT 单粒子电感耦合等离子体 - 介绍质谱仪使用标准模式随着纳米技术的发展以及分析纳米颗粒纳米颗粒在众多产品和工 SiO 2 艺应用的增加，对纳米颗粒分析描述的需求也在逐步增加。纳米颗粒有各种各样的成分，尤其是纳米颗粒根据其用途可用 SiO 2 于许多领域，包括油漆，强化材料和半导体工艺等。通过对纳米颗粒的 SiO 2 大小及粒径分布的表征，使纳米颗粒成功实现了与产品的结合应用。纳米粒径的分析已经有很多技术可以分析，包括显微镜、光散射法、射线 X 小角散射和场流分离等技术。尽管所有的技术都很好，但各有利弊。这些技术都存在较低的样品处理量，对于表征大量的纳米颗粒是能力非常有限的。此外，上面提到的技术除了显微镜之外，其他均不能提供颗粒的组成成分及颗粒数量等信息。 To meet these limitations, single particle ICP-MS (SP-ICP-MS) Results and Discussion has been developed1, 2. This technique allows for the rapid analysis The difficulty in analyzing Si with ICP-MS is the high background of nanoparticles, measuring thousands of particles in less than a at m/z 28 (the most abundant isotope of Si) due to CO+ and N + . To meet these limitations, single particle ICP-MS (SP-ICP-MS) Results and Discussion