:X射线荧光光谱分析技术.pptVIP

基础理论与知识 基础理论与知识 利用X射线荧光进行元素定性、定量分析工作，需要以下三方面的理论基础知识： 莫塞莱定律(Moseleys law)，是反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律。1913 年H.G.J.莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线特征光谱K和L线，得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系。 莫塞莱认识到这些X 射线特征光谱是由于内层电子的跃迁产生的，表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的，使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一。 布拉格定律(Braggs law)是反映晶体衍射基本关系的理论推导定律。1912年英国物理学家布拉格父子(W.H. Bragg和W.L. Bragg)推导出了形式简单，能够说明晶体衍射基本关系的布拉格定律。此定律是波长色散型X荧光仪的分光原理，使不同元素不同波长的特征X荧光完全分开，使谱线处理工作变得非常简单，降低了仪器检出限。 比尔-朗伯定律（Berr-Lambert‘s law）是反应样品吸收状况的定律，涉及到理论X射线荧光相对强度的计算问题。 当X射线穿过物质时，由于物质产生光电效应、康普顿效应及热效应等，X射线强度会衰减，表现为改变能量或者改变运动方向，从而使向入射X射线方向运动的相同能量X射线光子数目减少，这个过程称作吸收。 对于任意一种元素，其质量吸收系数随着波长的变化有着一定数量的突变，当波长（或者说能量）变化到一定值时，吸收的性质发生了明显变化，即发生突变，发生突变的波长称为吸收限（或称吸收边），在各个吸收限之间，质量吸收系数随波长的增大而增大。对于X射线荧光分析技术来说，原级射线传入样品的过程中要发生衰减，样品被激发后产生的荧光X射线在传出样品的过程中也要发生衰减，由于质量吸收系数的不同，使得元素强度并不是严格的与元素浓度成正比关系，而是存在一定程度的偏差。因而需要对此效应进行校正，才能准确的进行定量分析。 用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。 X射线荧光光谱仪： 生产厂家：德国布鲁克 型号：S4 Pioneer 仪器结构原理图 型号：S4 Pioneer X射线荧光光谱分析方法 定性分析 只给出化学元素，无浓度； 半定量分析 无标样分析方法，即不需要标准样品； 给出大概的浓度值； 包括了定性分析； 定量分析 使用校准曲线，给出高准确度的浓度值； 适合较大量的日常分析 定量分析方法和基体效应校正 标准样品的准备一 X射线荧光光谱是一种相对分析方法 准备一套高质量的标准样品 市售标样 矿物类标样 150元/瓶 需要考虑样品的稳定性 固体类光谱分析标样 700元/块 表面处理 液体标样 有效期 挥发（油样） 标准样品的准备二 配制标样 液体样品和熔融制样的样品可以考虑采用光谱纯或化学纯的物质来配制； 粉末样品由于难以混匀和颗粒效应一般不考虑配制； 研制标样 采用湿法化学分析法定值 标准样品＋制样 标准试料片 固体原样 研磨 可能会带来SiO2,Al2O3污染 表面粗糙度的影响 基体效应严重 压片制样 颗粒效应和矿物效应 熔融制样 稀释对检出限的影响 S,Pb等元素的挥发 制样成本 液体样品 直接进样 滤纸片法 仪器测量条件的选择 X射线的激发条件 根据分析元素选择电压、电流 滤光片的作用 准直器的选择 灵敏度or分辨率 分光晶体 灵敏度or分辨率 衍射效率（InSn,PET)，稳定性（PET) 计数器 PHA的选择 测量时间的选择 定量分析方法-绘制校准曲线 根据元素的浓度和已测的该元素的特征谱线的强度按一定关系进行拟合； 和其它仪器分析方法不同的是，在XRF分析中X射线强度很少直接正比于分析元素的浓度； 定量分析方法-绘制校准曲线 定量分析方法 定量分析方法结果的评估：  精密度 仪器测量精密度、方法精密度 室内标准偏差、室间标准偏差 准确度 与标准样品的标称值和标准分析方法的分析结果的比较，是否存在显著性误差 回收率 基体效应 颗粒效应 矿物效应 元素间的吸收增强效应 颗粒效应的影响 颗粒效应的影响会随着样品粒度的减小而减小，但是颗粒度的减小是有限的。 有些样品的颗粒效应很严重，并不随着样品粒度的减小而减小。 熔融制样是消除颗粒效应的有效方法。 吸收增强