极零相消电路.pptx

第二章 能谱测量系统信号处理; 能谱测量中能量分辨 ; 能谱测量中能量分辨 ; 能谱测量中能量分辨 ;探测器的固有分辨：正如上一章所讨论的，这是电离或激发过程统计涨落造成的，设其产生能谱曲线的对应方差为sD 。 噪声引起的谱线展宽：电子学噪声会造成电路中一些重要节点的电平随机涨落，而叠加在信号上，从而造成信号幅度的随机涨落，加宽了能谱曲线。电子学噪声平均值为0，概率分布服从高斯分布，它对能谱线展宽的方差贡献为sn 。;堆积和基线涨落：由于探测器产生的信号在时间上是随机的，而输出信号一般均形成一定宽度和一定形状的脉冲，因而有可能出现二个信号叠加在一起的情况，这种情况称为堆积，它将使测量造成误差。 信号经成形后往往存在很长后沿，尽管每个信号中某一时刻产生的后沿很小，但是很多信号在该时刻叠加结果会形成一定大??的量，叠加在信号的基线上，由于信号间的间隔随机变化，因而形成信号的基线会随机涨落，而每个信号都是叠加在以前信号产生的基线之上，这样也会使信号幅度产生涨落。我们也可以近似认为这种涨落服从高斯分布，它对谱线展开的方差贡献为 sp 。 ;径迹亏损（弹道亏损）：探测器电流脉冲并不是理想冲击信号，存在着一定宽度和一定形状，而电子学系统中成形电路对于信号响应受到信号宽度和形状的影响，造成输出信号幅度变化，而电流信号的宽度和形状在某些探测器中往往亦是随机变化的，因而也会引起谱线展宽; 能谱测量中能量分辨 ;;上述四种因素在不同系统和不同条件下对能量分辨的影响主次不一样，需要具体分析。这四者可以认为是互相独立的。假定它们均服从高斯分布，那么最终输出幅度的涨落方差可以表述为： 而， ;1.噪声：是围绕某基线电平的随即电平涨落。 平均值为零，因此用平均值无法反映噪声大小，一般用均方值可以表征噪声的强度 定义:噪声的均方值应为噪声（电压或电流）在单位电阻（即1Ω电阻）上产生的平均功率。噪声的平均功率可以分解为各频率分量之和。即 S(w)称为噪声的功率谱密度函数，它是数学频率域内的噪声在某频率分量内产生的平均功率，单位为[瓦/赫兹], s(w)称为单边噪声功率谱密度函数，是物理频率域内，相对于角频率的功率谱密度函数，单位为[瓦/（弧度/秒）]。;设h(t)为一线性系统的冲击响应，h(t)的付里叶变换H(w) 为该系统的频率响应函数。 设输入端噪声均方值为 ，它的功率谱密度为 ，通过线性系统后其输出端噪声的功率谱密度为 所以输出噪声均方值为 ;2. 电子器件的噪声的分类;由于载流子的随机热运动引起的, 热噪声在存在于所有的器件中。 时域：可表示为幅度和时间都是随机分布的双向电流脉冲序列。 频域：白噪声(fh 1012 Hz) 若器件的电阻为R，其热噪声的电流功率谱密度为： 其中k为玻尔兹曼常数，T 为绝对温度 只与温度有关，与频率无关。其等效电路见右图 在 dw 或 df 内热噪声电流对总的热噪声电流平均功率的贡献为;载流子产生及消失的随机性，导致流动的电流的涨落(即噪声) 存在于少数载流子导电器件中（例如真空管，PN结反向电流等） 时域：随机分布的电流脉冲序列（平均值为0） 频域：白噪声(fh 109 Hz) 设器件的平均电流为I 其中 e 为电子电荷量,只与平均电流关,与频率无关. 在dw 或 df 内平均功率为 ;与频率有关。它的成因???要决定于器件的表面特性 普遍存在于电子管，晶体管，场效应管，电阻中 这类噪声的功率谱密度大体上与1/f 成比例，即 Af是与频率无关的参数。假定系统的上下限频率为fl 和fh ，则 每十倍频范围噪声强度相等， 在系统中可以通过抑制低频响应来抑制低频噪声。 一般与系统的工艺水平很有关系，挑选器件可以减小这类噪声需要。 如线绕电阻或薄膜电阻的低频噪声就比合成碳质量电阻的1/f 噪声小。;并联噪声（与探测器电流信号并联）： 探测器漏电流噪声（半导体探测器） 场效应管栅极电流噪声 偏压电阻RD 热噪声 泄放电阻Rf 热噪声 串联噪声（与探测器电流信号串联）： 场效应管的沟道热噪声 场效应管的低频噪声 ;电荷灵敏放大器输入电路的噪声分析 ;串联噪声源等效到并联噪声的等效关系;我们可以把串联噪声源等效到并联噪声，得到 按噪声电流和频率关系可分为三部分， 其中， ;电荷灵敏放大器输入电路的噪声分析 ;;系统输出的信噪比定义为 为输出信号的幅度， 为输出端噪声强度（即均方值） 我们可以将输出端的噪声强度等效到输入端，得到输入端等效噪声电压 A为系数的增益。因为无法直接测量输入端的噪声，只能将测量到的输出端噪声，折算回去，以分析噪声对输入电压、电荷