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第 卷 第 期 ， 年 月 ， 文章编号： （ ） 一种用于动态过程测量的实时偏振相移方法 钱克矛 缪 泓 伍小平 （中国科学技术大学力学与机械工程系，合肥 ） 摘要： 利用一种特殊的相位龙基光栅和偏振相移技术，可同时获得四幅具有不同相移的干涉图，由此可计算出被 测物体的全场相位分布，从而实现对动态过程相位的测量。将该方法应用于马赫 曾德尔干涉系统和散斑干涉系 统，分别测量了液体的折射率变化和固体的离面位移，给出了实验结果。 关键词： 动态过程测量；偏振相移；龙基光栅；马赫 曾德尔干涉；散斑干涉 中图分类号： 文献标识码： 利用相移技术可测量物体的全场相位分布，并 （ ） 可计算出对应的被测的量，测量精度、灵敏度和自动 为 [ ] 和[ （ ） ] ，则偏振片 ! ［］ 化程度高 ，因而获得了广泛应用。该技术在测量 后光场的琼斯向量和光强分布为 物体某一特定状态的相位分布时需要 幅或 幅以 （ ） 上具有不同相移的干涉图。如果这些干涉图不是同 [ ] [ （ ） ] [ ] [ ] ， ! 时得到的［如利用压电陶瓷（ ）引入相移］，则该 （） 技术一般局限于对静态或准静态过程的测量。