光电检测技术(乌兰图雅)01 光电技术基础2014.pptVIP

光电检测技术(乌兰图雅)01 光电技术基础2014.ppt

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光敏物质吸收光子后被激发的电子能溢出光敏物质的表面,并且在外电场的作用下形成光电子流。?? 当入射光线的频谱成分不变时,光电阴极的饱和光电发射电流与被阴极所吸收的光通量成正比。 也称爱因斯坦定律。发射出光电子的最大动能随入射光频率的增高而线性地增大,而与入射光的光强无关。 在入射光线频谱范围内,光电阴极存在临界波长,当光波波长等于这个临界波长时,电子刚刚能从阴极溢出。这个波长通常称为光电发射的“红限”,或称为光电发射的阈波长。 几种重要半导体材料的波长阈值 材料 温度/K Eg /eV λ/μm Se 300 1.8 0.69 Ge 300 0.81 1.5 Si 290 1.09 1.1 PbS 295 0.43 2.9 InSb 300 0.18 6.9 GaAs 300 1.35 0.92 Gap 300 2.24 0.55 * * ?价电子的运动状态发生变化,使它跃迁到新的能级上的条件是:能给电子提供足够能量的外界作用、电子跃入的能级是空的。 价带 导带 禁带 N型半导体 P型半导体 掺杂对半导体导电性能的影响: ??? 半导体中不同的掺杂或缺陷都能在禁带中产生附加的能级,价带中的电子若先跃迁到这些能级上然后再跃迁到导带中去,要比电子直接从价带跃迁到导带容易得多。因此虽然只有少量杂质,却会明显地改变导带中的电子和价带中的空穴数目,从而显著地影响半导体的电导率。 在一定温度下,若没有其他的外界作用,半导体中的自由电子和空穴是由热激发产生的。电子从不断热振动的晶体中获得一定的能量,从价带跃迁到导带,形成自由电子,同时在价带中出现自由空穴。在热激发同时,电子也从高能量的量子态跃迁到低能量的量子状态,向晶格放出能量,这就是载流子的复合。在一定温度下,激发和复合两种过程形成平衡,称为热平衡状态,此时的载流子成为热平衡载流子,它的浓度即为某一稳定值。 ★根据量子理论和泡利不相容原理,能态分布服从费米统计分布规律。 ★在某温度下热平衡态,能量为E的能态被电子占据的概率由费米-狄拉克函数给出,即 ??? 热平衡时半导体中自由载流子浓度与两个参数有关:一是在能带中能态(或能级)的分布,二是这些能态中每一个能态可能被电子占据的概率。 f(E):费米分布函数,能量E的概率函数 k:波耳兹曼常数,1.38×10-23J/K T:绝对温度 EF:费米能级(绝对零度时的电子的最高能级) 费米-狄拉克函数曲线 当E=EF时,f(E)=1/2 当EEF时,f(E)1/2 当EEF时,f(E)1/2 ★若(E-EF) kT时 随着E的增加, f(E)迅速减小,所以导带中的大部分电子的能量是在导带底EC附近。同样价带中空穴的绝大部分都在价带顶EV附近。 EF为表征电子占据某能级E的概率的“标尺”,它定性表示导带中电子或价带中空穴的多少。常温下EF随材料掺杂程度而变化。对于本征半导体 EF≈ (EC + EV )/2 一般,费米能级在禁带中, (E-EF) 比kT 大得多。所以半导体的导带电子浓度n和价带空穴浓度p分别为: N-为导带的有效能级密度 N+为价带的有效能级密度 ni称为半导体的本征载流子浓度 对本征半导体而言n=p 对于一种确定的半导体,不管它是本征半导体还是杂质半导体,也不管掺杂的程度如何,在热平衡状态下,两种载流子的浓度乘积必定等于一个常数——本征载流子浓度的平方。 a) 重掺杂P型 ? b) 轻掺杂P型? c) 本征型 d) 轻掺杂N型? e) 重掺杂N型 半导体的费米能级图如下图所示,以下表述中正确的是( ) A、(1)是本征半导体(2)是N型半导体(3)是P型半导体 B、(1)是本征半导体(2)是P型半导体 (3)是N型半导体 C、(1)是N型半导体 (2)是P型半导体 (3)是本征半导体 D、(1)是P型半导体 (2)是N型半导体 (3)是本征半导体 半导体在外界条件有变化(如受光照、外电场作用、温度变化)时,载流子浓度要随之发生变化,此时系统的状态称为非热平衡态。载流子浓度对于热平衡状态时浓度的增量称为非平衡载流子。 1、产生非平衡载流子的方法 对于弱光注入 ???????????? n=n0+Δn≈n0???????????? p=p0+Δp≈Δp 此时受影响最大的是少子浓度,可认为一切半导体光电器件对光的响应都是少子行为。 例如:一N型硅片,室温下,n0=5.5×1015cm-3,p0=3.5×104cm-3;弱光注入下,Δn =Δp=1010cm-3,此时非平衡载流子浓度 ????????? ?n=n0+Δn=5.5×1015

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