ICF中子产额测量中统计涨落分析及计算.pdfVIP

第23卷第9期 强 激 光 与 粒 子 束 V01．23。No．9 2011年9月 HIGHPOWERLASERANDPARTICI。EBEAMS Sep．，2011 文章编号：1001—4322(2011)09—2428—05 ICF中子产额测量中统计涨落分析及计算。 刘中杰， 郑志坚， 易荣清， 刘慎业， 丁永坤， 邓才波 (中国工程物理研究院激光聚变研究中心，四川I绵阳621900) 摘 要： 塑料闪烁探测器通常用来测量氘氘、氘氚聚变中子产额。中子在闪烁体中产生的质子数的统计 涨落及质子在闪烁体中沉积能量的统计涨落为测最结果引入了两项不确定度分量。以氘氚聚变中子为例，分 析了这两种统计涨落的概率密度函数的计算方法，该计算方法也适用于其它能量的单能快中子和塑料闪烁体 作用的相应计算。 关键词：DT聚变中子；符号计算软件Mathematica分布函数； 中子闪烁探测器 中图分类号：0571．5 文献标志码：A doi：lO．3788／HPI．P2428 在激光驱动的惯性约束聚变(ICF)研究中，通过靶丸上入射激光能量的沉积、球形内爆，把含热核燃料的 靶丸压缩到高温高密度，产生热核反应。测嚣聚变中子产额是判断是否达到热核反应条件最灵敏和最直接的 指示口]。利用塑料闪烁探测器测定聚变中子产额是一项成熟的技术口引。在利用闪烁探测器测量DD聚变中 子、DT聚变中子产额过程中口。5]，需要评估测量结果的不确定度。在许多不确定度的分量中，闪烁体中产生的 质子数的统计涨落引入的不确定度及质子在闪烁体中沉积能量的统计涨落引入的不确定度只是其中的两项。 在入射到闪烁体上的中子数目较小的情况下，这两项不确定度分量变成了总的合成不确定度的主要成分。在 计算这两个分量时，需要了解其概率分布情况。本文分析并给出了这两项分量的概率密度函数的计算方法。 1 聚变中子产额测量系统的构成及原理 图1是利用闪烁探测器系统测量聚变中子产额的原理图，主要由闪烁探测器、直流高压电源、衰减器和快 速数字示波器组成。闪烁探测器主要由闪烁体、光电倍增管和相应的电子部件3个部件组成。 当激光打靶的瞬间，同步机发送一个ns级的触发信号到数字示波器。同时，聚变靶丸产生的DT中子作 用在探测器的有机闪烁体上产生反冲质子，质子的能嚣沉积引起闪烁体的特征荧光，经光电倍增管转换为电脉 冲，通常经过衰减器衰减后再输入到数字示波器上。数字示波器上记录的波形经积分和数据处理后得到聚变 靶丸的中子产额。示波器的波形积分面积与质子沉积在闪烁体中的总能量成正比。因为质子沉积在闪烁体中 的能量存在统计涨落，当质子数日较少的情况下，示波器的中子信号积分面积并不与质子数目成正比。 triggersignal Block forfusionneutronmeasurement Fig．1 diagram yield 图1 聚变中子产额测量原理框图 2 中子在闪烁体中产生的质子数的概率分布 充DT燃料的靶丸内爆时产生的14MeV中子通常是各向同性发射。只有入射到闪烁体上的中子才有可 能转换为质子并将能量沉积下来。中子入射到闪烁体中，和氢原子发生碰撞反冲出来氢原子核，即质子，质子 在闪烁体中运动时，将能量沉积下来，产生光子，光子经过光电倍增管放大后的电信号通过衰减器输入到数字 示波器上记录下来。当然，如果电信号较小，应当去掉衰减器。 *收稿日期：2010—11-01；修订日期：201l_05—12 作者简介：刘中杰(1973一)．男，硕士，从事惯性约束聚变物理诊断研究；bolojedy@163．corn。 第9期 刘中杰等：ICF中子产额测量中统计涨落分析及计算 中子和氢原子碰撞产生质子可以看成数理统计中的伯努利试验问题嘲。考虑一个中子入射到闪烁体上产 生质子的概率为P，不产生质子的概率为1一p，则咒个中子和氢原子碰撞产生的质子数m的概率分布服从二 项式分布