利用平晶谱仪测量谱线波长的新方法.pdfVIP

第35卷第4期 中 国 激 光 V01．35，No．4 2008年4月 OFLASERS April，2008 CHINESEJOURNAL 文章编号：0258—7025(2008)04一0587一05 利用平晶谱仪测量谱线波长的新方法 赵 阳1’2 杨家敏2 张继彦2 刘劲松1 袁 孝1 韦敏习2 胡智民2 甘新式2 ，1华中科技大学光电子科学与工程学院武汉光电国家实验室，湖北武汉430074、 、 2中国工程物理研究院激光聚变研究中心，四川绵阳621900 I 摘要为了满足激光等离子体x射线波长测量的需要，在辅助光阑法的基础上，从理论上提出了一种用平面晶体 谱仪确定波长的新方法。发展了改进的辅助光阑法来确定晶体面与记录面的交线到第一条辅助光阑的距离，并且 利用某一条谱线的曲率得到记录面与晶体表面的夹角。这两个参量在一般的辅助光阑法中需借用参考谱线得到， 而采用新的方法可在不使用任何参考谱线的情况