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  • 2017-11-08 发布于湖北
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二次电子和吸收电子检测器

应用实例 图13-12为已标识的(C3H7)4NS2PF2的X射线光电子谱图。 由图可知,除氢以外,其它元素的谱峰均清晰可见。图中氧峰可能是杂质峰,或说明该化合物已部分氧化。 图13-12 (C3H7)4NS2PF2的XPS谱图 注意 定性分析时,必须注意识别伴峰和杂质、污染峰(如样品被CO2、水分和尘埃等沾污,谱图中出现C、O、Si等的特征峰)。 定性分析时一般利用元素的主峰(该元素最强最尖锐的特征峰)。 显然,自旋-轨道分裂形成的双峰结构情况有助于识别元素。特别是当样品中含量少的元素的主峰与含量多的另一元素非主峰相重叠时,双峰结构是识别元素的重要依据。 2.定量分析 方法:理论模型法、灵敏度因子法、标样法等。 应用最广的是元素(原子)灵敏度因子法。定量结果的准确性比俄歇能谱相对灵敏度因子法定量好,一般误差可以不超过20%。 由于在一定条件下谱峰强度与其含量成正比,因而可以采用标样法(与标准样品谱峰相比较的方法)进行定量分析,精确度可达1%~2%。但由于标样制备困难费时,且应用具有一定的局限性,故标样法尚未得到广泛采用。 3.化学结构分析 通过谱峰化学位移的分析不仅可以确定元素原子存在于何种化合物中,还可以研究样品的化学结构。 从图中可以看到,这些化合物中的碳原子分别处于两种不同的化学环境中(一种是苯环上的碳,一种是羧基碳),因而它们的C1s谱是两条分开的峰。 谱图中两峰的

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