放大器噪声模型及噪声参数测试方法.docVIP

放大器噪声模型与噪声测量方法 摘要：运算放大器是最基本、最具代表性的、应用最广泛的一种模拟集成电路。随着集成芯片制造工艺的提高和电路结构的完善，相继研发了一系列用于微弱信号检测的高性能专用集成运放，基于低噪声运放的放大电路得到了十分广泛的应用。放大器的噪声水平及噪声特性直接关系到信号检测灵敏度，关系到系统的整体性能，并且可以用于电路和系统的可靠性工作。给出了放大器噪声的模型，并介绍了噪声测量的一些方法，最后通过实验案例对噪声应用于放大器的可靠性作了简要介绍。 关键词：放大器，噪声模型，噪声测量，可靠性 1.放大器的噪声类型[1] 运算放大器电路中存在5种噪声源: 散粒噪声(Shot Noise) 热噪声(Thermal Noise) 闪烁噪声(Flicker Noise) 爆裂噪声(Burst Noise) 雪崩噪声(Avalance Noise) 爆裂噪声和雪崩噪声在运算放大器电路中通常没有太大影响，即使有，也能够消除，在噪声分析中可以不予考虑。下面逐一介绍各种噪声源。 1.1　散粒噪声 散粒噪声总是与电流流动相联系的。无论何时电荷流过势垒(如pn结)，导体不再处于热平衡状态，都会导致散粒噪声产生。流过势垒纯粹是随机事件，因此，大量随机、独立的电流脉冲的平均值iD就形成了瞬时电流i。散粒噪声通常定义为这个平均值变化量的均方值，记为： 式中，q是电子电荷(1.62×10-19C)