SOC芯片DFT研究与设计-2017年11月.pdfVIP

电 子 与 封 装 第9 卷第0 1 期 电 子 与 封 装 第9 卷，第0 1 期 总 第69 期 Vol .9 ，N o .0 1 ELECTRONICS PACKAGING 2009 年0 1 月 电 路 设 计 SOC 芯片DFT 研究与设计 杨 兵，魏敬和，王国章，虞致国 （中国电子科技集团公司第58 研究所，无锡2 14035 ） 摘　要：文章首先介绍了SOC 系统的DFT 设计背景和DFT 的各种测试机理，包括基于功能的总线 测试机理、基于边界扫描链的测试机理、基于插入扫描电路的测试机理以及基于存储器自测试的 测试机理。然后以某专用SOC 芯片为例提出了SOC 电路的DFT 系统构架设计和具体实现方法。主 要包括：含有