电子输运问题的几个试验构想.PPTVIP

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  • 2017-11-05 发布于天津
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电子输运问题的几个试验构想

电子输运问题的几个实验构思 李亚东、李建刚、张晓东、任重 高K密度涨落分量特性研究 研究背景 20thIAEA会议上,Tore Supra装置的二氧化碳激光相干散射诊断工作组的实验数据显示,在电子热输运主导的实验条件下,k波矢从9.5cm-1扫描到15cm-1,没有发现反常的密度涨落现象,进一步拓宽k谱的测量范围,最大k拓展到26cm-1,仍然没发现密度涨落增强的趋势。DIII-D装置微波相干散射诊断工作组的实验结果显示,用中性束加热扰动等离子体温度,低k(k=1cm-1)与高k(k=35cm-1)密度涨落变化有一定的相似性;用脉冲ECH加热时,高k与低k的密度涨落变化趋势相反;在21thIAEA会议上,DIII-D工作组的实验结果显示,高k(k=35cm-1)密度涨落不是ITG模和TEM模的残留和延续。而ToreSupra工作组的新实验结果表示在ETG模区域没有发现新的涨落分量。以上实验结果导致了欧州、美国学术界对电子热输运微观机理看法的差异,因此,在高K寻找新的密度涨落分量、发现其与电子热输运的关系是关键问题。 我们现有的结果 Frequency profile changed with k wavenumber increasing 二个相速度 ?PH=?/k 弱湍流特征 实验的目的 不同等离子体参数下的色散关系(相速度) 实验条件(I): IP=170kA, ne

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