实验-介电+电阻率.ppt

1 基本原理 电阻率 材料本身的特性； 结构、组织——电阻率； 工艺+成分——结构、组织 电阻率 工艺？ 测试方法 伏安法 电桥法 四端电极法（四探针法） 高阻计法 测量范围0-20MΩ，七档量程，最小分辨力?1mΩ； 20Ω、200Ω、2kΩ、20 kΩ、200kΩ?，0.05%?； 2MΩ、20MΩ，0.1% 显示4? 位LED数码管 电源AC 220V? 50Hz? 功耗6W 尺寸(W)250 mm×(H)70 mm×(D)285mm 重量2kg 测量范围0-20KΩ，七档量程，最小分辨力?1mΩ； 20mΩ、200mΩ、2Ω、20kΩ、200Ω?，≤0.05%?； 2KΩ、20KΩ，0.01% 显示4? 位LED数码管 电源AC 220V? 50Hz? 功耗15W 尺寸(W)265 mm×(H)110 mm×(D)285mm 重量2.5kg EST121数字超高阻、微电流测量仪 工作原理 QJ84型数字直流电桥工作原理。被测电阻以四端钮法接入电桥，与量程网络中基准电阻和精密运放构成半桥电路，完成R/V变换，后经A/D变换，由LED数码管显示测试数据，量程切换电路在改变量程网络电阻同时，完成小数点切换。 QJ83四端钮法——低电阻；二端钮法-高电阻； 工作原理 根据欧姆定律，R=V/ I 传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定，通过测量流过被测物体的 电流I以标定电阻的刻度来读出电阻值。所以电阻的显示值是非线性的， 即电阻无穷大时，电流为零，即表头的零位处是∞，其附近的刻度非常 密，分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时，其 电压V也会有些变化，所以普通的高阻计的精度是很难提高的。 EST121型数字高阻计是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流 I，通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算，然后把所得到 的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值，即便是电阻两端的电压V和 流过电阻的电流I是同时变化，其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被 测电压V的变化或电流Ｉ的变化而变，所以,即使测量电压、被测量电阻、 电源电压等发生变化对其结果影响不大，其测量精度很高。从理论上讲 其误差可以做到零。而实际误差可以做到千分之几或万分之几 低电阻测量实验步骤 样品准备和尺寸测量； 开机预热30min； 校准 测量 选择量程——从高到低； 在低量程时严禁长时间短路； QJ84测量时需要按下测量“METER”键。 实验数据记录（测量温度、湿度） 一、实验目的 1、了解材料的介电性能参数； 2、初步了解材料介电响应机制； 3、掌握材料介电性能的测试。 测量原理 自动平衡电桥原理 电桥法和Q表测量法 试样和仪器 实验样品 不同成分的陶瓷、玻璃试样一批； 实验设备仪器 TH2817 LCR仪一台； 游标卡尺一把； 导电胶一瓶； 烘箱一台。 实验步骤 样品准备，涂覆导电胶； 将涂覆好导电胶的样品进行烘干； TH2817 LCR仪开机预热30分钟； LCR仪开路、短路清零以及相应参数的设定； 样品尺寸测量； 介电性能进行测试，记录测试数据； 关机，整理； 实验数据处理，撰写实验报告。 测定数据记录表 思考题 1. 阐述材料的介电性能的含义及其影响因素； 2. 分析不同材料的介电性能差异的根源； BNTT陶瓷介电频谱（室温） * *  实验 材料的电阻率测定 实验 材料介电性能的测量 实验 材料的电阻率测定 一、实验目的 了解不同材料的电阻性能的差异； 了解不同材料电阻的测试方法和原理； 掌握低电阻材料的测试仪器及操作； 初步掌握不同处理方式对材料电阻率的影响分析； 电导率、电阻率 (1)表征材料导电性的大小。 单位：S. m-1, Ω.m ⑵材料的分类 材料 电阻率 Ω.m 电导率 S. m-1 超导体 导体 半导体 绝缘体 0 10-8-10-5 10-5-107 107-1018 ∞ 105-108 10-7-105 10-18-10-7 图10-2 高阻计测量的基本电路示意图 K1—测量与放电开关；K2－RvRs转换开关；K3－输入短路开关；R0－标准电阻；A－测量电极；B－保护电极；C－试样Rx；D－底电极 几种导体材料的电阻率（Ω.m） 　银Ag 　—— 1.62 ? 10-8 　铜Cu 　—— 1.72 ? 10-8 金Au 　—— 2.40 ? 10-8 　铝Al 　 —— 2.82 ? 10-8 钠Na —— 4.60 ? 10-8 　钨W 　—— 5.48 ? 10-8 　铁Fe　 —— 1.00? 10-7 铂Pt —— 1.05 ?