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模拟电子技术基础简明教程第二讲
半导体器件的基础知识
第三节 半导体二极管
一、二极管的结构、符号与种类
1.结构与符号
一个PN结芯片,加上相应的电极引线和管壳就构成了半导体二极管。
箭头含义:表示二极管正偏导通时电流的实际方向。
2.种类
一般A代表N型锗材料;C代表N型硅材料;B代表P型锗材料;D代表P型硅材料。二、二极管的伏安特性曲线
由以上电路不断改变滑线变阻器的阻值,可得到不同的电压值及对应的电流值,利用这些相互对应的电压、电流值用描点法可得如下二极管伏安特性曲线。
讨论
1.正向特性(UD0的区域)
UD=0时,I=0,所以曲线过原点O
当正向电压较小时(UDU th),几乎没有电流,只有当UDU th后电流才随UD的增加而显著增加(按指数规律增长),当电流超过一定值之后,二极管两端的电压几乎稳定不变(对于硅管约为0.6V)。
我们将电压V th称为死区电压或门坎电压。
注意:正偏压不能太大,一般上限不能超过1伏,否则会由于电流过大导致二极管损坏。
2.反向特性(UBRU0)
当反向电压很小时,反向电流IR随UR的增大略有增大,当UR增大到一定值时,几乎所有的少子都参与导电,此时IR便不再随UR增大而变大,此时达到饱和值IRS。
注意:反向饱和电流IRS(教材用IS)与环境温度有关(T↑→IRS↑)。
3.击穿特性(UD≤UBR)
由曲线可以看出,当反向电压大到一定值时(超过UBR)反向电流急剧增大,这种现象称为击穿,UBR称为反向击穿电压。这种现象易造成二极管的损坏,二极管击穿后,不再具有单向导电性。
注意:通过反向特性曲线可以看出,二极管被击穿后,虽然电流变化很大,但是二极管两端的电压基本保持不变,利用这一特性,我们可以制成稳压二极管。
三、二极管的主要参数
1.最大整流电流IFM
指二极管在正偏导通时所被允许通过的最大正向平均电流。
注:二极管在使用时,若电流值超过此值就容易损坏。对于大功率二极管我们在使用时必须要加上散热片。
2.二极管的直流电阻RD
指二极管两端的直流电压与通过它的直流电流的比值。
由伏安特性曲线我们可以看出,电流越大,电阻就越小,故二极管的直流电阻值不是一个常数,所以说二极管是非线性元件。
3.二极管的交流电阻(动态电阻):
交流电阻值很小,一般只有几欧~几十欧。
4.反向击穿电压UBR
5.最高反向工作电压URM(工作时加在二极管两端的反向电压不得超过此值,否则二极管可能被击穿)。通常将反向击穿电压的三分之一或三分之二定为最高反向工作电压。
6.反向饱和电流IRS
在实际应用中二极管的反向饱和电流是越小越好。
7.最高工作频率fM
注意:由于PN结的结电容和扩散电容的存在,使得二极管最高工作频率受到限制,我们在选用二极管时,要使二极管的最高工作频率高于实际使用的工作频率。
四、二极管的电容效应(极间电容)
二极管除了具有单向导电性外,当加在它两端的电压发生变化时,它还具有一定的电容效应。
二极管的电容效应包括两个部分a、势垒电容(又称结电容)和b、扩散电容
由前讨论可知:若PN结加正向电压,则P区空穴被推入PN结内,N区电子被推入PN结内,此时空间电荷区减小相当于电容放电。若加反向电压,则空穴被拉走,电子也被拉走,此时容间电荷区增加,相当于电容充电。
可见,加不同的电压,对PN结来说,就好比一个电容器的充电放电过程。这种效应我们称之为电容效应,其等效电容称为二极管的极间电容。
1.势垒电容(结电容)记作CB
它是用来描述势垒区的空间电荷随外加电压变化而产生的电容效应。
若外加电压不变,则CB消失,显然CB存在于当外加电压为交变电压时,既只有外加交变电压时才有CB ∝
对于一个PN结来说,s是不变的,d是随外加电压而变化的。
若加反向电压,则d增加,CB减小。
若加正向电压,则d减小,CB增加。
因为正偏时,则d减小,CB增加,但此时rD较小,可以认为短路。此时可认为电容不起作用。
即在正偏时,CB可忽略。
在加反向电压时,由于rD较大,尽管这时CB较小,但此时电阻rD较大,电路相当于开路,所以此时CB的作用不能忽略。CB起分流作用。
注:CB与普通电容不同之处,在于它的电容量不是定值,而是与外加电压有关。目前广泛应用的变容二极管就是利用PN结电容随外加电压变化的特性制成的。
只有加反压,输入高频信号时,CB起作用(分流作用)。
2.扩散电容CD
扩散电容与势垒电容的形成机理不同。
对于一个PN结,当加上正偏压后,P区的空穴及N区的电子要相互扩散,空穴及电子在扩散过程中均呈梯度分布。当外加电压增加时,梯度分布变得显著。反之,当外加电压减小时,分布将趋于平均分布。这种由于扩散而显示的电容效应称为扩散电容。
显然,只用在正偏压时,扩散电容CD才显
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