BELLE实验之B介子稀有衰变分析.PDF

BELLE 實驗之 B 介子稀有衰變分析 張寶棣、王正祥、陳凱風 國立台灣大學/物理系/高能實驗室、國立聯合技術學院 前言 位於日本國家高能中心 KEK 的 B 介子工廠 BELLE 實驗，是利用 8GeV 的電子與 3.5GeV 的正電子對 撞，以產生大量的 b 夸克及反 b 夸克的共振態Υ(4S) ，並藉由Υ(4S)→ 的事件來研究 B 介子的衰 0 變行為。我們台大高能實驗組 (NTUHEP)負責許多的 B 介子稀有衰變模式，如 B→K π 、ρπ、ηK 和ω π等。而以下就以B+ + 0 →K π 模式來作一簡介。 B+ + 0 × − [1] →K π 模式的衰變率 (Branching Ratio)約為 ，由CLEO 實驗組於 1998 年發表。在 正負電子對撞的環境之下，由於彈性(elastic)及非彈性(inelastic)碰撞反應的物理機制下，會有不 同的物理反應結果。不同的反應機制會導致我們在探測器中偵測到不同的反應分佈。在 KEKB 對撞機的 + – + – + – + – + – 能量下，會有以下主要的反應結果：Bhabha (e e →e e ) 、Muon-pair (e e →μ μ ) 、Tau-pair(e e + – + – + – + – →τ τ ) 、 雙光子物理(e e →e e γγ) 、Υ(4S)→ (e e →Υ (4S)→ )與非 B 介子的夸克、 + – 反夸克( )事件(e e → →2 jets) 。就B 物理而言，經過觸發 (trigger)篩選後，主要選取的事件 + – + – 為Υ(4S)→ (e e →Υ (4S)→ ) 與非 B 介子的夸克、反夸克( )事件(e e → →2 jets) ， 其截面積(Cross-section)比約為 1 :2.8 ，再考慮事件重建的效率(Reconstruction Efficiency) ，使 + + 0 得我們在每一百萬個事件中，大約只能找到一個左右真正的 B →K π 。因此我們需要應用多種不同的 分析方法，如 Event Shape 、Fisher Discriminator 、類神經網路(Neural Network) 、以及 Maximum Likelihood Fit ，在大量的數據當中分別背景(background)事粒及尋找我們所需的 B 事件。 Carlo 資料，作為測試各種分析方法的基礎。 事件模擬(Monte Carlo)與重建 (Reconstruction) 就重建而言，在探測器中只會看到粒子衰變後 就模擬而言其主要有兩部分：其一為偵測器模 生命期較長的粒子。在 BELLE 中只有下述粒子(包括 擬 (GSIM) ，主要模擬粒子在探測器的反應。另一為 反粒子)會被看到：光子(photon) 、電子(eletron 模擬物理事件產生 (QQ98) 。以本分析而言，我們用 and positron) 、質子(proton and antiproton) 、 QQ98 產生三種不同事件：B+ + 0 渺子(muon)、帶電K 介子及π介子。我們使用 BELLE