组合电路随机测试的一种新方法-计算机工程与科学.pdfVIP

维普资讯 (：43．I258／TP 计算机工程与科学 2002年第 24卷第 2期 ISSN 1O町 ．】3∞( CO~ I／[ERENCIXEEPoTG ＆SCIENCE Voi24．No．2．2002 文章编号：1007．130X(2002】02-0084．04 组合电路随机测试的一种新方法 A NewApproachtoRandom Testingfor CombinationalCircuits 徐拾义 XUShi-yi 上【海大学计算机学院，上海 200072) (SdmolofC~rnputerScience，ShanghaiUniversity，Shangh~200072．China 摘 要：本文在随机测试的基础上提出了逆随机测试 (ART)的新概念 。在该测试序列的集合中 各测试码之间的海明距离为尽可能的大 ，这样可以使不同的测试码检剐到更多不 同的故障，扶而提高 了测试效率年口故障覆盖率。本文给出了构造逆随机测试序列 (ARTS)的详细过程，并且严格证明了 该序列的高效和正确性，同时还给出了用Benchmark和其它电路作为例子的实验结果 Abstract：Ba矧 0nrandom testing，thisp0perintroducestheconceptofanti．random testing|nWhi thetotal distanceamongaliofthetestpatternsischosenaSmaxima[aspossiblesohtatthesetsof~auitsdetectedbyonetest patternareasdifferentaspossiblefrom htatofhtefaultsdetestde bvthetestsprevio．slyapplied．A procdeureof eonstruetlnganand—random testingsequence(ARTS)isdescribedindemii．Theoremstoiustl卸 hteeffectiveness andcolreel／lessofhteprocedurepresentedaredeveloped．F~xperimentslresultsbasedonBenctm~arkaswella5ohtel circuitsa dsogiventoevaluatetheperfomanceofourfleP-approacli． 关键词：随机测试；逆随机测试；故障覆盖率；海明距离；距离效应 Keywords：random testing；anti-random testing；faulteoreiltge；Hanuningdistance；distanceeffect 中囤分类号 ：TP33I 文献标识码：A 标。在此种情况下，特别是在黑盒测试时，随机 引言 测试可能是一种十分适合的首选测试方祛。 然而，随机测试方法有其不足之处。最主要 在某些特定的测试环境下，随机测试可谓是 的问题是 由于随机生成测试码的故障覆盖率很 一 种具有挑战性的性价比较高的测试方法。由于 低，因而在同样故障覆盖率的条件下，它所需要 它不需要生成测试码，不需要专门的测试算法， 测试码的个数往往是确定型测试算法所生成的测 简单而便捷