薄膜法X射线荧光光谱对重金属铬元素检测研究.PDFVIP

薄膜法X射线荧光光谱对重金属铬元素检测研究.PDF

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薄膜法X射线荧光光谱对重金属铬元素检测研究.PDF

第 卷 第 期 , l.34 No.7 34   7 光 学 学 报 Vo       年 月 , 2014 7 l 14 Ju 20 TAOPTICASINICA y AC       薄膜法 射线荧光光谱对重金属铬元素检测研究 X 甘婷婷 张玉钧* 赵南京 殷高方 董欣欣 王亚萍 刘建国 刘文清               ( , 合肥 ) 中国科学院安徽光学精密机械研究所环境光学与技术重点实验室 安徽 230031 摘要 研 ( ) , 究了重金属 元素薄膜法 射线荧光 光谱分析中的滤膜 结果表明亲水性聚四氟乙烯滤膜对 Cr X XRF Cr   , 。 元素富集具有较好的均匀性 并且对该滤膜上 元素进行 光谱测量具有较好的灵敏度 利用亲水性聚四氟 Cr XR F , , 乙烯滤膜对不同浓度的 元素进行富集 并且利用 光谱进行测试 结果表明当 元素的面积浓度在 Cr XR F Cr 3.84 ~ -2 · 范围 , 167 cm 内时 元素 光谱中 特征谱线的积分荧光强度与 元素的面积浓度之间具有非常好 Cr XRF K Cr g α μ -2

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