测试性设计的主要目的和具体的实施方法.pdfVIP

电子产品可靠性与环境试验 2014年 满足要求 的故障检测率和隔离率 ，而测试性设计 目 隔离时间就与故障检测时间不同．要增加人l丁检测 标是要求隔离故障到更换模块时间满足相应 的平均 时间来鉴别模糊组 中的实际发生的故障模块。 修复时间中对检测隔离故障时间的限制 根据上述定义 ，故障隔离率可由公式 (2)表 实现快速故障隔离的功能 ．即减少隔离故障的 示 ： 时间．存在 3种渠道 的综合权衡设计 ：1)提高 BITE的故障隔离率的设计 ：2)减少人T (指专职 = IlL-l— (2) 维修人员使用外部检测仪器和设备)隔离故障时间 的设计 ：3)减少隔离对象数量 ，也就是兼并现场 A 更换模块以减少隔离对象数量的设计 这对机载设 式 (2)中：n——被测系统 中现场更换模块 的数 备来说 ，限于重量 、体积 的严格约束 ，不容许 量 ： BITE过于复杂而增加体积重量 ．因而大幅度地减 — — 第 i序号的现场更换模块第 种失效模 少现场更换模块是唯一的 路 由此引发要求现场 式的频数 比： 更换模块数量的增加．可以在现场更换模块 中设置 凡——BITE可隔离故障的更换模块数。 内场更换单元 ．并在邻近现场设置中继站点．承担 使用内场更换模块来减轻对备件数量的要求 2 分析设计故障隔离时间的新方法 实 际的BITE设计 ．必须考虑满足费用 、技 首先 ．我们要改进故障隔离时间 I1有关人T进 术 、体积和重量的约束 ．一般难以达到90％以上 行故障隔离的表达式 ．考虑到人T对 BITE不能进 的水平 ．也就是说 ．至少还有 10％的概率要依赖 行故 障隔离 的各个更换模块的隔离时ffjJ的不一致 人T进行故障隔离 如果人T隔离时间过长 ．10 性 ，系统故障隔离的平均时间模型应改进为： ％的概率平均时问就可能超过平均故障隔离时间的 n 限制 ；相反 ，当没法减少人T的故 障隔离时 问． r= +乙 (1一 ) (3) i= I BITE的故障隔离率为 80％也完全有可能满足要求 式 (3)中：n—— 系统中现场更换模块的数量： 的平 均故障隔离时 间 因此 ，文献 1『1最早提 — — 系统故障隔离率 ； 用平均故障隔离时间参数作为测试性设计指标是合 D‘广 第 i序号更换模块的故障隔离率； 理 的： tk——BITE的故障隔离时间： 丁= t+ (1一 ) ． — — 第 i序号更换模块人T隔离故障时间 式 (1)中： ——故障隔离率； 另一方面 ．难点 、繁琐和T作量更大的是确定 ￡——BITE的故障隔离时间，通常小于 1min： BITE对检测对象发生故障能够响应的各种失效模 一 — — 人丁隔离故障时间。