CMOS图像传感器的测试及故障处理开题报告.docVIP

CMOS图像传感器的测试及故障处理开题报告.doc

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CMOS图像传感器的测试及故障处理开题报告

毕业设计(论文)开题报告 课 题 名 称 :CMOS图像传感器的测试及故障处理         学 院 :  信息科学与技术学院     专 业 :  电子信息工程   姓 名 : 何忠伟 __ 学 号 :  070901013         指 导 教 师 :  李德敏       2011年 2 月 22 日 CMOS图像传感器的测试及故障处理 1、背景介绍 自从上世纪60年代末期,美国贝尔实验室提出固态成像器件概念后,固体图像传感器便得到了迅速发展,成为传感技术中的一个重要分支,它是PC机多媒体不可缺少的外设,也是监控中的核心器件。互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感 器与电荷耦合器件(CCD)图像传感器的研究几乎是同时起步,但由于受当时工艺水平的限制,CMOS图像传感器图像质量差、分辨率低、噪声降不下来和光照灵敏度不够,因而没有得到重视和发展。而CCD器件因为有光照灵敏度高、噪音低、像素少等优点一直主宰着图像传感器市场。由于集成电路设计技术和工艺水平的提高,CMOS图像传感器过去存在的缺点,现在都可以找到办法克服,而且它固有的优点更是CCD器件所无法比拟的,因而它再次成为研究的热点。 70年代初CMOS传感器在NASA的Jet Propulsion Laboratory (JPL)制造成功,80年代末,英国爱丁堡大学成功试制出了世界第一块单片CMOS型 图像传感器件,1995年像元数为(128×128)CMOS有源像素图像传感器由喷气推进实验室首先研制成功,1997年英国爱丁堡 VLSI Version公司首次实现了CMOS图像传感器的商品化,就在这一年,实用CMOS技术的特征尺寸已达到0.35mm,东芝研制成功了光敏二极管型APS,其像元尺寸为5.6mm×5.6mm,具有彩色滤色膜和微透镜阵列,2000年日本东芝公司和美国斯坦福大学采用0.35mm技术开发的 CMOS-APS已成为开发超微型CMOS摄像机的主流产品。 CMOS图像传感器在我们生活中运用已经越来越多,涉及了各个行业各种领域以及我们生活的每一个方面,既然我们运用这么多,那么CMOS图像传感器常见问题的检测与处理就显得越发重要,我将对这方面进行相关研究,希望能给我们带来一定的方便与收益。 2、研究现状 作为固体图像传感器的一大分支,CMOS图像器的研究起始于20世纪60年代末,由于当时受工艺技术的限制,直到90年代初才发展起来,至今已研制出三大类CMOS图像传感器,即CMOS无源像素传感器(CMOS-PPS)、CMOS有源像素传感器(CMOS—APS)和CMOS数字像素传感器(CMOS DPS)。在此基础上又问世了CMOS视觉传感器(CMOS Visual Sensor)、CMOS应力传感器(CMOS Stress Sensor)、CMOS对数极性传感器(Log-polar CMOS Sensor)、CMOS视网膜传感器(CMOS Retinal Sensor)、对数变换形CMOS图 像传感器(Logarithmic.Converting CMOS Image SensorsCMOS有源 像素传感器(Rail.to.Rail CMOS Active Pixel Sensor)、单斜率模式CMOS图像 传感器(Single Slope Mode CMOS Image Sensor)和CMOS指纹图像传感器 (CMOS Fingerprint Sensor)等。其中发展最快的是CMOS.PPS和CMOS.APS。 这两种类型的摄像器件已经进入商品化和实用阶段,但是对全面改善 CMOS.APS性能的工作还在深入进行。CMOS图像传感器能够快速发展,一是基于CMOS集成电路工艺技术的成熟,二是得益于固体图像传感器技术的研究成果。 CMOS图像传感器是20世纪70年代在美国航空航天局(NASA)的喷气推进实验室(JPL)诞生的,同CCD图像传感器几乎是同时起步的。诞生之初由于其性能的不完善严重影响了图像质量,从而制约了它的发展和应用。在70年代和80年代,CCD在可见光成像方面取得了唱主角的地位。进入90年代,由于对小型化、低功耗和低成本成像系统消费需要的增加和芯片制造技术和信号处理技术的发展,为新一代低噪声、优质图像和高彩色还原度的CMOS传感器的开发铺平了道路,CMOS图像传感器逐渐成为固体图像传感器的研究和开发热点,CMOS传感器的性能也得到大幅度提高。目前研究开

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